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KLA iNano®納米壓痕儀
KLA iNano®納米壓痕儀使測(cè)量薄膜、涂層和小體積材料變得更簡單。準(zhǔn)確、靈活、用戶友好的儀器可以進(jìn)行多樣的納米材料力學(xué)測(cè)試，包括壓痕、硬度、劃痕和...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 2:05:23
對(duì)比
KLA iNano®納米壓痕儀inano納米壓痕儀納米劃痕儀inano壓痕儀
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KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀
KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀是一種易于使用的納米級(jí)力學(xué)測(cè)試工具，可快速提供精確的定量分析結(jié)果。G200X系統(tǒng)可處理從硬質(zhì)...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 1:49:48
對(duì)比
KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀半導(dǎo)體劃痕壓痕測(cè)量
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KLA Candela® 7100系列缺陷檢測(cè)和分類系統(tǒng)
KLA Candela® 7100系列缺陷檢測(cè)和分類系統(tǒng)為硬盤驅(qū)動(dòng)器基板和介質(zhì)提供了高級(jí)缺陷檢測(cè)和分類功能。7100系列硬盤驅(qū)動(dòng)器缺陷檢測(cè)和分類系統(tǒng)以...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/9 23:09:27
對(duì)比
KLA Candela® 7100缺陷檢測(cè)分類系統(tǒng)晶圓缺陷檢測(cè)和分類系統(tǒng)晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)晶圓分類系統(tǒng)半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)和分類系統(tǒng)
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KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)
KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)為金屬或玻璃數(shù)據(jù)存儲(chǔ)基板和成品介質(zhì)提供了先進(jìn)的量測(cè)和檢測(cè)功能。隨著數(shù)據(jù)存儲(chǔ)制造商努力通過進(jìn)一步...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/9 22:57:56
對(duì)比
KLA Candela® 6300光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)光學(xué)表面缺陷表面缺陷檢測(cè)光學(xué)檢測(cè)儀
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KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀
KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀提供3D量測(cè)和成像功能，與集成防震臺(tái)和晶圓操作系統(tǒng)結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。該系統(tǒng)采用ZDot™ 技術(shù)...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/9 20:00:22
對(duì)比
KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀臺(tái)階儀輪廓儀光學(xué)輪廓儀kla輪廓儀
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KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀
KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀可提供3D 量測(cè)和成像功能，與集成式防震臺(tái)和靈活的配置相結(jié)合，可以處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用ZDot&trade...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/9 19:53:24
對(duì)比
KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀Zeta™-300光學(xué)輪廓儀光學(xué)輪廓儀白光干涉儀粗糙度儀
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KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀
全新的KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀專為滿足優(yōu)良金屬化工藝中對(duì)于細(xì)柵線、接觸墊和主柵線的測(cè)量需求而設(shè)計(jì)。更為優(yōu)良的3D 成像技術(shù)，以及最大...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/7 15:39:58
對(duì)比
KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀eta™-Solar光學(xué)輪廓儀光學(xué)輪廓儀輪廓儀白光干涉儀
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KLA Zeta™-20光學(xué)輪廓儀
KLA Zeta™-20光學(xué)輪廓儀是一個(gè)高度集成的光學(xué)輪廓顯微鏡，可在緊湊、耐用的包裝下提供3D量測(cè)和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot™ 技...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/7 15:12:45
對(duì)比
KLA Zeta™-20光學(xué)輪廓儀白光干涉儀KLA光學(xué)輪廓儀非接觸式輪廓儀
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KLA Filmetrics® Profilm3D® 光學(xué)輪廓儀
KLA Filmetrics® Profilm3D® 光學(xué)輪廓儀和 Profilm3D-200 光學(xué)輪廓儀經(jīng)濟(jì)實(shí)惠，是一套非接觸式基于白光干...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/7 14:50:31
對(duì)比
KLA Filmetrics® Profilm3D®光學(xué)輪廓儀光學(xué)表面分析儀Profilm3D® 光學(xué)輪廓儀白光干涉儀
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KLA HRP®-260 探針式輪廓儀
KLA HRP®-260 探針式輪廓儀是一個(gè)高分辨率、自動(dòng)化探針式輪廓儀，提供從幾納米到 300 微米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。P-260支持臺(tái)階高度、粗糙...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/7 14:40:10
對(duì)比
kla hrp-260探針式輪廓儀輪廓儀臺(tái)階儀粗糙度儀
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KLA Tencor® P-170 探針式輪廓儀
KLA Tencor® P-170 探針式輪廓儀是一款自動(dòng)化輪廓儀，可為生產(chǎn)環(huán)節(jié)提供從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。該系統(tǒng)支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/7 14:32:42
對(duì)比
KLATencor® P-170 探針式輪廓儀Tencor® P-170探針式輪廓儀輪廓儀
