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迈可诺技术有限公司
主营产品: 美国Laurell匀胶机,WS1000湿法刻蚀机,Cargille光学凝胶,EDC-650显影机,NOVASCAN紫外臭氧清洗机 |

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产品图片 | 产品名称 | |||
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FI26X/FI-20/FI-26UVP 紫外线交联仪 简单介绍:所有UVP透照仪都在过滤器的整个工作表面上提供透明荧光材料的背照区域。 紫外透射仪配有紫外线阻挡罩,可防止紫外线辐射?;厥峭坑懈咂分?,防刮粉末涂层。 型号包括不锈钢顶部组件或粉末涂料。 产品型号:FI26X/FI-20/FI-26 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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SPS手动系列MicroXact手动探针台 简单介绍:SPS-1000,SPS-2000和SPS-2200系统是MicroXact首要的手动探针台,设计灵活且易于使用。这些手动探针系统的高性能和经济性使它们属于自己的一类。凭借高达200mm的晶圆功能,DC或RF探头和可选的热卡盘以及各种屏蔽选项,我们的探针台可用于广泛的应用,例如故障分析,可靠性测试,IV / CV测试,低目前的测试,微波和射频表征等等。 产品型号:SPS手动系列 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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SPS-HS系列MicroXact高速半自动化探针台 简单介绍:随着半导体变得越来越小和越来越复杂,有必要更密切地监控和控制生产,特别是在该过程的更上游。使用MicroXact的半自动探针台进行的晶圆级可靠性测试通过一系列压力测试收集数据,以识别可能影响器件长期可靠性的不规则性。尽管并非总是需要,但在晶片级可靠性测试之后可以进行进一步的和广泛的故障分析。 系统构建在一个重型,通用的平台上,能够配置为处理各种探测应用。 产品型号:SPS-HS系列 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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SPS-HP系列MicroXact高精度半自动化探针台 简单介绍:SPS 2600-HP,SPS 2800-HP和SPS 12000-HP系列系统是MicroXact的半自动探针台,设计灵活,易于使用,可用于高效设备表征,晶圆级可靠性测试和故障分析。这些半自动探针台系统设计用于支持多200mm晶圆的手动和半自动探测。 产品型号:SPS-HP系列 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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SPS系列MicroXact标准半自动探针台 简单介绍:MicroXact的半自动探针台提供多种选择,包括加热/冷却晶圆卡盘,标准或数字显微镜以及可编程平台分度,为您的所有高效设备表征提供经济高效且易于使用的解决方案。晶圆级可靠性测试需求。这些半自动探针台有三种选择(标准,高精度和高速)。 产品型号:SPS系列 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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LCS-4000系列MicroXact分析探针台配有激光切割系统 简单介绍:LCS-4000系列分析探针台配有激光切割系统 带有集成激光切割系统的LCS-4000探针台为用户提供了半导体诊断切割,失效分析,修整,标记和顶层去除的大灵活性。所有这些功能都可以在微观层面上进行,所有这些都在这一系统上进行,这提供了非常易于使用的高水平性能。 产品型号:LCS-4000系列 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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A4P系列A4P四点探针自动电阻率测绘系统 简单介绍:A4P四点探针自动电阻率测绘系统 A4P系列晶圆电阻率映射器使用经过验证的行业标准,可以快速,准确,可靠地测量样品电阻率分布。MicroXact的四点探针通过使电流通过四点探头的外部点并测量内部点的电压来测量半导体晶圆层的平均电阻。然后可以通过将薄层电阻乘以薄膜的厚度来找到电阻率的值,即赋予其电阻的材料的性质。 产品型号:A4P系列 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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Model 200-6JFP 引线键合机200 简单介绍:JFP 引线键合机200-6适用于在6英寸晶圆上分割元件。功能强大的,无振动,操作简单,无需过多培训即可使用。包括数字十字准线的视频集进行垂直定向; LCD屏幕可显示参数,可通过编程轮进行选择。 产品型号:Model 200-6 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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S100JFP键合机100Model 简单介绍:JFP键合机100Model适用于3英寸晶圆的划片 划片机 100是一款*的设备,设计用于划分精密模具,例如GaAs和硅芯片?;?100非常灵活,使用划线和断裂顺序,使成品模具保持清洁,不受损坏。 在断开模式期间,当线性刀升高以沿着芯线断裂时,划片机 100使用聚酯薄膜来保持模具。薄膜可防止模具受到污染或压力。所有参数均由控制键盘设定,设备坚固耐用,无振动,操作简单,无需过多培训。 产品型号:S100 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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MPS MiniMPS 环氧树脂键合机 简单介绍:MPS 环氧树脂键合机 小芯片和SMD零件组装 MPS 是实现准确拣选和放置的精密设备。 刀架设计,摇头,为胶合提供了一个简单的解决方案...... 视频接口兼容Ultra-HD相机,可调节数字放大倍率,灵活性大,小尺寸和大尺寸芯片都适用。 真正的垂直运动实现了高精度放置和真正的垂直相机定位。 侧面摄像头,提供过程录像;摄像头可以任意角度倾斜; 高倍率变焦功能,适用于非常小的设备或关键过 产品型号:MPS Mini 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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CNI v3.0-200台式纳米压印机 简单介绍:桌面纳米压印机,易于复制微米和纳米级结构。 纳米压?。ㄈ群妥贤庀撸?br />直径高达210mm圆形模板,带紫外线 150 * 150mm方片模板,采用热处理工艺 热压印 操作简单直观 用途广泛 即插即用 专为研发而设计 产品型号:CNI v3.0-200 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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WB200JFP引线键合机 简单介绍:WB-200系列JFP引线键合机作为多功能半自动焊线工具,用于研发,标准和小批量生产。 WB-200提供全手动Z向控制,用于标准设计或简单维修,无需机械设置; 台式,尺寸小巧; 所有配置:平面基板,坚固包装; 强大的视频/聚焦功能,兼容小键合图案和多键高度应用; 软件访问不受限制; 这是新一代JFP焊线机,具有增强的功能,是坚固可靠的机械设备。 产品型号:WB200 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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CNI v3.0-100纳米压印机 简单介绍:CNI v3.0-100是一种非常灵活的纳米压印机。它可提供加热型纳米压印、UV紫外纳米压印以及真空纳米压印。??榛低晨筛萏囟ㄐ枨笄崴膳渲?,体积小,容易存放,大可处理210mm(8英寸)圆形的任何尺寸印章和基材。该系统是手动装卸印章和模板,但所有处理器都是全自动的,软件用户可以*控制压印过程。 产品型号:CNI v3.0-100 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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PL600NIL纳米压印机 简单介绍:EZI UV NIL纳米压印机 EZI 紫外曝光纳米压印系统 EZ Imprinting推出了一款台式独立纳米压印系统:PL系列400/600. EZImprinting是一种超高产率( 99%)纳米压印光刻系统,带有低于10纳米的分辨率和一步自动释放功能。 产品型号:PL600 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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PL400紫外纳米压印机 简单介绍:EZ Imprinting推出了一款台式独立NIL纳米压印PL系列系统:PL系列400/600. EZImprinting是一种超高产率( 99%)纳米压印光刻系统,带有低于10纳米的分辨率和一步自动释放功能。 该平台提供具有微定位夹具的机械平台,用于安装纳米压印室,UV固化源和对准显微镜。 它即可以作为纳米压印系统,也可以作为传统的掩模对准器,同时提供可编程的自动控制功能。 产品型号:PL400 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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FR-Scanner扫描型薄膜在线测厚仪 简单介绍:品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。 产品型号:FR-Scanner 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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FR-pRo基础型膜厚仪(紫外/近红外-高分辨率) 简单介绍:品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。 产品型号:FR-pRo 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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FR-portable便携式光学膜厚仪 简单介绍:品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。 产品型号:FR-portable 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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FR-uProbe微米级光学薄膜测厚仪 简单介绍:品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精 产品型号:FR-uProbe 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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Colibri大气压等离子表面处理仪 简单介绍:Colibr大气压等离子表面处理仪,专为表面清洁,改性和活化而设计。 它可以在不同的材料上运行,如金属,塑料,陶瓷,纸张等。 用户友好的控制界面使Colibrì成为小型生产或研发环境的简单通用解决方案。 产品型号:Colibri 所在地:北京市 更新时间:2025-07-01 |
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