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邁可諾技術(shù)有限公司

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    MC方案|鈣鈦礦薄膜厚度的測量

    2019-4-9 閱讀(3663)

    ThetaMetrisis Application Note 0261.bmp

    鈣鈦礦廣泛用于太陽能電池的開發(fā)。由于這些類型的太陽能電池具有良好的光伏性能,因此對(duì)它們進(jìn)行了系統(tǒng)的研究。鈣鈦礦薄膜的厚度和形態(tài)是影響太陽能電池性能的重要因素。特別地,人們發(fā)現(xiàn),當(dāng)鈣鈦礦的厚度小于400nm時(shí),鈣鈦礦太陽能電池的效率很大程度上取決于薄膜厚度;而當(dāng)鈣鈦礦的厚度大于400nm時(shí),效率則很大程度上取決于鈣鈦礦層的薄膜形態(tài)。在本應(yīng)用說明中,我們使用FR工具測量鈣鈦礦薄膜的厚度。

     

    測量方法:用于表征的樣品是兩種不同厚度的CH3NH3PbBr3鈣鈦礦薄膜,它們位于標(biāo)準(zhǔn)ITO/SiO2/Soda-lime基底上,如示意圖1所示。 使用FR-Basic VIS / NIR進(jìn)行反射測量,在350-1020nm的光譜范圍內(nèi)操作。

     

    ThetaMetrisis Application Note 0262.bmp

     

    結(jié)果:兩種樣品的典型獲得的反射光譜(黑線)和擬合的反射光譜(紅線),如FR監(jiān)控軟件所示,分別在圖2a)和b)中所示。 兩種測量方法的擬合在500-750nm光譜范圍內(nèi)進(jìn)行,樣品1中鈣鈦礦薄膜的厚度在516.9nm處測量,而樣品2中的厚度在394.4nm處測量。

     

    ThetaMetrisis Application Note 0263.bmp

    圖2a):樣品1的實(shí)驗(yàn)和擬合反射光譜。在515nm處測得的厚度

     

    ThetaMetrisis Application Note 0264.bmp

    圖2b):樣品2的實(shí)驗(yàn)和擬合反射光譜。在392nm處測得的厚度。

     

    結(jié)論:對(duì)鈣鈦礦薄膜厚度測量的基本性能進(jìn)行了驗(yàn)證。

     

    360截圖163103247289100.jpg

     

    Reference:

    1 K. Wang, C.Liu, P. Du, L. Chen, J. Zhu, A. Karim, and X. Gong, “Efficiencies of perovskitehybrid solar cells influenced by filmthicknessand morphologyof CH3NH3PbI3-xClx layer,” Org. Electron. physics, Mater. Appl., vol. 21, no. February, pp.19–26,2015.

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