系統(tǒng)配置豐富，高分辨θ/θ閉環(huán)測角儀驅(qū)動系統(tǒng)、多位自動換樣系統(tǒng)、包括多層膜反射鏡平行光系統(tǒng)的全自動光學系統(tǒng)和二維陣列半導體探測器，配合功能齊全的控制和分析軟件，可在室溫和變溫條件下實現(xiàn)覆蓋固體粉末、薄膜、納米材料、塊體材料和液體樣品的常規(guī)衍射、掠入射衍射、in-plane衍射、X射線反射和小角X射線衍射(SAXS)等多種模式測量，可執(zhí)行高精度全自動物質(zhì)結(jié)構(gòu)測試分析任務。

┃ 設備特點

• 高強度X射線光源

• 高能量分別率的二維探測器

• 豐富的CBO光學附件，全自動光路切換和校準

• 全新SmartLab Studio Ⅱ 軟件，與硬件結(jié)合，并且集成了眾多原位測量功能