Bruker Dimension   lcon"原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的应用体验，具有高水平的性能、功能和配件选择，其测试功能强大，操作简便易行。齐集 Dimension系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求， Dimension lcon进行了全面革新。全新的系统设计，实现了的低漂移和低噪音水平。现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。

┃ 设备特点

• 空间分辨率下的完备表面表征 

采用大样品台的 Dimension Icon AFM 帮助提升了原子力显微镜技术和材料科学领域的发展，在世界范围内已有超过千篇的科研文献发表。在此平台上集成了 30多年来原子力显微镜的技术，为纳米力学、电学、电化学研究提供了特制的表征技术。您会从中获得商用 AFM 设备的性能表现，进展，异的测量重复性和操作简便性

• 纳米力学性质定量分析应用 

Dimension Icon 平台的纳米力学套装提供一系列完整的快速定量表征材料纳米力学性质的功能模式，适用样品涵盖了软且粘的凝胶和复合材料样品到坚硬的金属和陶瓷材料。 纳米力学套装包含了 AFM 纳米力学测量发展历程中的多种模式，包括布鲁克推出的革命性的 AFM-nDMA 模式，它性地将纳米力学测试结果与传统 DMA 测试相结合

• 多维纳米电学表征

Dimension Icon 的纳米电学套装包含了的纳米电学测量模式组合。对比于接触模式下的电学测量模式，布鲁克的 PeakForce TUNA  和 PeakForce KPFM  模式将电学性质和力学性质相关联起来，拓展了可研究材料的范围，也有了显著的论文发表记录。现今，布鲁克的 DataCube 模式更提供了图像上每个像素点上的多维度电学谱线，并在单次测量中同步获得样品的电学和力学性质

• 具有商用分辨率的扫描电化学显微镜

在 Dimension ICON AFM 上搭载纳米电化学?？椋∟ano EC），可以为电化学反应的实时定量分析提供可靠地测量方法。利用 EC-AFM 和 PeakForce SECM  ?？?，可实现在电化学池中进行原位的形貌扫描，并且适用于在化学溶剂中（包括挥发性溶液）长时间原位电极反应研究