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首页>>上海波铭科学仪器有限公司>>产品展示>>半导体材料测试>>体微缺陷测试

  • SIRM红外体微缺陷分析仪 参考价:面议

    SIRM是非接触和非破坏型光学检测设备,对体微缺陷,如氧化物和金属沉淀,位错、堆垛层错,体材料中的滑线和空隙等进行测试。这个技术也可对GaAs 和 InP等复合...
    型号: 厂商性质:生产商所在地:上海市 对比
    体微缺陷测试
    2025/7/24 15:33:221067
  • LST体微缺陷测试设备 参考价:面议

    LST是检测半导体材料的体微缺陷有力工具,通过CCD相机,对入射光在样品边沿的散射进行扫描,获得体微缺陷分布信息。
    型号: 厂商性质:生产商所在地:上海市 对比
    体微缺陷测试
    2025/7/24 15:31:20941

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