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非接触迁移率测试系统 参考价：面议
LEIModel1605，是非接触迁移率测试系统，可对各种半导体材料和器件结构进行测试。无需制样，消除了样品制备引起的迁移率变化。
非接触方块电阻测试系统 参考价：面议
LEI88 是针对科研类客户开发的产品，具备非接触快速测试方块电阻和电导率功能。
非接触Hall和方块电阻测试系统 参考价：面议
非接触Hal和方块电阳测试系统，可对GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各种半导体材料设计的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器...
SRP 扩展电阻测试 参考价：面议
SRP 测试系统，采用扩展电阻率技术(SRP)，对载流子浓度和电阻率随深度的变化做快速测试。
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