少子寿命/ μ LBIC变温测试系统 参考价:面议
WT-2000MCT/μ LBIC 适用于对超低温有特殊要求的材料,比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等,它已被广泛用于化合物材料的缺陷,杂质和...WT-2000半导体多功能测试 参考价:面议
WT-2000提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激发光,适合Si,SiC,GaAs,CdZnTe,InGaAs等各种材料电学参数测试。WT-1200A 单点式少子寿命测试系统 参考价:面议
WT-1200A 是单点式少子寿命测试系统,具备无接触等优点。