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首页>>上海波铭科学仪器有限公司>>产品展示>>半导体材料测试>>半导体多功能测试

  • 少子寿命/ μ LBIC变温测试系统 参考价:面议

    WT-2000MCT/μ LBIC 适用于对超低温有特殊要求的材料,比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等,它已被广泛用于化合物材料的缺陷,杂质和...
    型号: 厂商性质:生产商所在地:上海市 对比
    少子寿命LBIC变温测试
    2025/7/24 14:56:19517
  • WT-2000半导体多功能测试 参考价:面议

    WT-2000提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激发光,适合Si,SiC,GaAs,CdZnTe,InGaAs等各种材料电学参数测试。
    型号: 厂商性质:生产商所在地:上海市 对比
    半导体多功能测试
    2025/7/24 14:54:25631
  • WT-1200A 单点式少子寿命测试系统 参考价:面议

    WT-1200A 是单点式少子寿命测试系统,具备无接触等优点。
    型号: 厂商性质:生产商所在地:上海市 对比
    少子寿命测试
    2025/7/24 14:52:27728

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