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詳細(xì)摘要： 二手FEI-SEM電鏡 FEI-QUANTA250 FEI Quanta 系列包括六款可變壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡 (ESEM™)。所有這些產(chǎn)品均可滿足工業(yè)工藝控制實(shí)驗(yàn)室、材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室和生命科學(xué)實(shí)驗(yàn)室的多種樣本和成像要求。

詳細(xì)摘要： 二手電鏡 二手日本電子JSM-IT300日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。性的前衛(wèi)性外觀設(shè)計(jì)還特別吸引眼球。

詳細(xì)摘要： 二手日立噴金儀掃描電子顯微鏡 (sem) 是一種多功能的工具，在大部分時(shí)候，無(wú)需什么樣品制備，即可提供各種樣品的納米級(jí)信息。而在某些情況下，為了獲得更好的sem圖像，會(huì)推薦或甚至有必要結(jié)合噴金儀（離子濺射儀）使用sem。在這篇博客中，我們將解釋噴金儀是如何工作的，以及適用的樣品類

詳細(xì)摘要： 供應(yīng)日立（二手）場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM 430型號(hào)掃描電鏡是一款具備超高分辨率的熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，主要用于獲得納米尺寸級(jí)別的樣品表面形貌信息，可在高真空下實(shí)現(xiàn)高壓和低壓的超高分辨率形貌檢測(cè)。配備兩種物鏡模式（浸沒(méi)式和無(wú)場(chǎng)式）。配備紅外CCD檢測(cè)相機(jī)，極靴內(nèi)二次電子檢測(cè)器，通用ET二次電子檢測(cè)器，低真空二次電子檢測(cè)

詳細(xì)摘要： （2手）掃描電鏡SEM+EDX分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標(biāo)，就可完成從圖像觀測(cè)到元素分析的整個(gè)過(guò)程。

詳細(xì)摘要： 二手鎢燈絲電鏡，二手SEM；掃描電鏡分辨率：高真空二次電子像3.0nm（30KV） 掃描電鏡放大倍數(shù)：5×～1000000×，連續(xù)可調(diào) 能譜儀分辨率：MnKα峰的半高寬優(yōu)于127eV； 能譜儀元素測(cè)試范圍：Be4— Pu94

詳細(xì)摘要： 日立二手電鏡SEM+EDX掃描電子顯微鏡詳細(xì)信息該設(shè)備具有新研制的電子光學(xué)系統(tǒng)和自動(dòng)化功能顯示系統(tǒng)有全屏顯示，無(wú)閃爍，高像素和實(shí)時(shí)圖像顯示等優(yōu)異的性能，它還可以實(shí)時(shí)信號(hào)混合并同時(shí)顯示兩個(gè)不同的檢測(cè)器觀測(cè)到的互不相同的樣品信息。

詳細(xì)摘要： 二手高分辨率場(chǎng)發(fā)射電鏡是電子顯微鏡的一種，掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征。

詳細(xì)摘要： 二手場(chǎng)發(fā)射顯微鏡SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。具有高性能x射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、半定量及定量分分析，具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。

詳細(xì)摘要： 二手場(chǎng)發(fā)射電鏡，二手SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡通用性強(qiáng)，可廣泛應(yīng)用于納米材料、金屬材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)化工、醫(yī)學(xué)及生物學(xué)領(lǐng)域，可高效觀察包括非導(dǎo)體樣品及強(qiáng)磁性樣品等。

詳細(xì)摘要： 二手日立場(chǎng)發(fā)射電鏡：貨供應(yīng)二手掃描電鏡,二手場(chǎng)發(fā)射電鏡,二手透射電鏡S-9300，S-9380，S-806C，H-7100，S-4700，S-4200，S-4160，S-3000N，S-2700，S-2400，TM-1000；臺(tái)式，桌面式Hitachi FE-SEM Field Emission Scanning Electron Microscope

詳細(xì)摘要： 二手電鏡，二手場(chǎng)發(fā)射電鏡它*進(jìn)的特點(diǎn)和性能可以快速又簡(jiǎn)便地適應(yīng)各種應(yīng)用。通用的Windows界面通過(guò)顯示器上顯示的菜單和圖標(biāo)允許進(jìn)行交互式的操作。應(yīng)用在材料，結(jié)構(gòu)，表面形貌分析：

詳細(xì)摘要： 二手場(chǎng)發(fā)射電鏡，二手電鏡：場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上，低電壓下通過(guò)在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實(shí)原貌的立體感樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能x射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面

詳細(xì)摘要： 日立SEM二手S-4300掃描電子顯微鏡采用大樣品室的半內(nèi)透鏡設(shè)計(jì)，卻能達(dá)到分辨率，可以與內(nèi)透鏡UHR掃描電鏡相媲美。

詳細(xì)摘要： 二手JEOL場(chǎng)發(fā)射電鏡7001F熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應(yīng)用需求的理想平臺(tái)。JSM-7001F具有大型、5軸、全對(duì)中馬達(dá)驅(qū)動(dòng)自動(dòng)化樣品臺(tái),還有單動(dòng)作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時(shí)，也具有適用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想結(jié)構(gòu)的擴(kuò)充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。

詳細(xì)摘要： 二手日立S-4300場(chǎng)發(fā)射電鏡繼承了傳統(tǒng)，它技術(shù)*進(jìn)的特點(diǎn)和性能可以快速又簡(jiǎn)便地適應(yīng)各種應(yīng)用。通用的Windows界面通過(guò)顯示器上顯示的菜單和圖標(biāo)允許進(jìn)行交互式的操作。是否提供加工定制否類型電子顯微鏡 品牌日立型號(hào)S-4300 儀器放大倍數(shù)20x~5000000x目鏡放大倍數(shù)

詳細(xì)摘要： 二手掃描電鏡SEM產(chǎn)品介紹：TM-3000是日立高新公司新推出的一款機(jī)型小巧性能優(yōu)異的鎢燈絲電鏡，擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設(shè)計(jì)，配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散…

詳細(xì)摘要： 二手日立臺(tái)式電鏡TM-3000Hitachi 公司近日新一代TM3000臺(tái)式掃描電子顯微鏡。在其成功的前身TM-1000的基礎(chǔ)上，TM-3000在性能上作出了顯著的改善，包括放大倍數(shù)提高到30，000x，分辨率得到改善，整個(gè)機(jī)體節(jié)省了20%的空間，并添加了節(jié)能設(shè)計(jì)。

詳細(xì)摘要： 日本電子二手掃描電鏡JSM分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標(biāo)，就可完成從圖像觀測(cè)到元素分析的整個(gè)過(guò)程。

詳細(xì)摘要： 二手SEM日立TM3030plus日立臺(tái)式電鏡TM3030Plus，是日立臺(tái)式電鏡TM系列的成員，它繼承了日立臺(tái)式電鏡的品質(zhì)。TM3030Plus在TM3030基礎(chǔ)上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD，該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量，而且無(wú)需樣品前處理.