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詳細摘要： Hitachi 二手 SU-5000場發(fā)射電鏡 SEM+EDX是一款高性能電子光學(xué)系統(tǒng)，具備2.0 nm的二次電子分辨率和強大的低加速電壓成像能力（低至100 V），支持高效微區(qū)分析及材料研究。其“EM Wizard"界面簡化了操作流程，提供高真空與可變壓力模式之間的靈活切換，并配備了多種分析工具如EDS、WDS、EBSD等，適用于廣泛的科研領(lǐng)域。

詳細摘要： 二手 日立 SU-5000 熱場發(fā)射電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學(xué)元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn)，影像依然保持居中和聚焦。

詳細摘要： 二手 蔡司 sigma300 場發(fā)射電鏡分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復(fù)的分析結(jié)果。

詳細摘要： 二手電鏡SEM二手EDX能譜 JSM-IT100 掃描電子顯微鏡/掃描電鏡 是JSM-6010及JSM-6510的升級型號，是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡。全新設(shè)計的InTouchScope操作界面，即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對越來越多元化的操作環(huán)境需求，JSM-IT100的操作設(shè)計，能讓您更輕松、有效率的使用儀器。

詳細摘要： 二手 JEOL日本電子 IT-300 掃描電鏡日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。前衛(wèi)性外觀設(shè)計還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制，極為簡化，操作簡單和智能化的一種體驗。

詳細摘要： 二手 日本電子 IT-500掃描電鏡是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設(shè)定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡

詳細摘要： 日立SU-8010 二手掃描電鏡通過對樣品二次電子、背散射電子的采集，可進行物質(zhì)微觀形貌和生物組織觀察；并基于EDS附件得到部分元素定性和半定量分析，可以進行微區(qū)的點、線、面掃描測試。 場發(fā)射掃描電鏡SU8010它繼承了上一代S-4800的優(yōu)點，性能有進一步提高，1kv使用減速功能后，分辨率提升到1.3nm，相對于S-4800可以在更低的加速電壓下高分辨像，明顯提升了以往很難觀測的低原子序數(shù)樣品。

詳細摘要： 二手 日立 SU8020 高分辨冷場發(fā)射電鏡具有的功能，適用于各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、 背散射電子像觀察及圖像處理。低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、 細胞、 微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感的樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能X射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區(qū)點線面元素的定性、 半定量分析，具有形貌、 化學(xué)組分綜合分析能力。

詳細摘要： SU-8010 日立二手冷場發(fā)射電鏡二次電子像、反射電子像進行觀察及圖像處理?？蓪饘?、陶瓷、巖石礦物、生物等樣品及各種固體材料進行觀察和分析研究。電鏡配有高性能X射線能量色散譜儀，簡稱能譜儀（EDS），能在不損壞樣品的同時進行樣品表層的微區(qū)點、線、面元素的定性、定量分析。具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。

詳細摘要： 二手 日立S-4800冷場發(fā)射電鏡觀察和檢測體相及納米結(jié)構(gòu)的固態(tài)無機材料（非磁性）等表面形貌和組成

詳細摘要： 二手 日立 S-4700 冷場發(fā)射電鏡SEM+EDX可以觀察和檢測非均相有機、無機材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。能譜附件可對樣品進行微區(qū)成分分析。

詳細摘要： 二手 日立 SU-8010 冷場發(fā)射電鏡真空系統(tǒng)采用分子泵和離子泵，抽真空速度快，設(shè)備的真空度高達10-8Torr。該設(shè)備在高倍模式下放大倍數(shù)100X～300,000 X，在低倍模式下放大倍數(shù)20X～2000；二次電子像的分辨率在加速電壓15KV時達到1.0nm，在加速電壓1KV時達到10 nm；最大的樣品尺寸是10mm。

詳細摘要： 二手 日本電子 場發(fā)射電鏡SEM+EDX:場發(fā)射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征.

詳細摘要： 二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。

詳細摘要： 二手 日本電子 JSM-7610F plus場發(fā)射電鏡 ?是一種優(yōu)良的電子顯微鏡，其核心原理基于場發(fā)射電子源和電子光學(xué)系統(tǒng)。場發(fā)射電鏡利用強電場作用，使得電子通過量子隧道效應(yīng)逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，從而實現(xiàn)更高的分辨率。

詳細摘要： 二手 日本電子 SEMIT100掃描電鏡主要特點為全數(shù)字化控制系統(tǒng)，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統(tǒng)、全對中樣品臺及高靈敏度半導(dǎo)體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號在很多大學(xué)、研究院所及制造業(yè)被廣泛使用。

詳細摘要： 二手 日立 掃描電鏡SU-3500系列SEM+EDX具有實現(xiàn)了“3 kV加速電壓7 nm分辨率"的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實現(xiàn)實時立體成像的“實時立體觀察功能"＊1、以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器"＊1它為觀察和分析提出了嶄新的標準。

詳細摘要： 二手 FEI 掃描電鏡 QUANTA系列 250研究各種各樣的材料，并進行結(jié)構(gòu)和成份表征，是目前對掃描電鏡 的主流應(yīng)用要求。FEI QuantaTM FEG系列靈活、通用，足以應(yīng)對當今人 們廣博的研究方向這一挑戰(zhàn)?！胺治鋈魏螛悠?，得到所有數(shù)據(jù)"， 在Quanta FEG上可得到表面像和成份像，并可輔以多種附件來確定材 料的性質(zhì)和元素組成。

詳細摘要： 二手 蔡司 SEM SUPRA25 掃描電鏡廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、 織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析。

詳細摘要： 二手 日本電子 IT-300掃描電鏡經(jīng)過改進照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質(zhì)量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設(shè)計和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。