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在线XRF 光谱仪可以对生产线上的产品进行自动材料分析和合金牌号辨别，并即时提供结果，从而可对生产过程进行实时监控，并对合金进行100%无遗漏辨别。

总有机碳（TOC）分析仪离线监测系统不需要氮气、氧气、酸试剂及氧化剂，操作简单、使用成本低；离线实验室使用，满足注射用水、纯化水有机碳的测试及清洁验证；

CPS高精度纳米粒度分析仪是一台稳定高速、高分辨的纳米颗粒测量仪器。该仪器适合测量 0.005 微米（也即 5 纳米） 到 75um 微米范围的粒度。

数据采集分析软件采用全中文图形用户界面，方便用户控制测试台和记录测量数据，支持手动或自动编译其测试脚本程序。

循环水智慧管理系统全天候监控，提供多维度自动管理，降低结垢/沉积/粘泥/腐蚀风险,荧光计实时监测药剂浓度，稳定有效药剂浓度，按需调整药剂浓度。

F60薄膜厚度测量仪就像我们的 F50产品一样测绘薄膜厚度和折射率，但它增加了许多用于生产环境的功能。 这些功能包括凹槽自动检测、自动基准确定、全封闭测量平台、...

主动式防震系统一些灵敏度很高的仪器可能是一个自然谐振频率的被动系统，可以用主动隔振系统消除共振。

薄膜厚度测量仪：以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统，能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度，加上F10-HC软件的模拟演算法的设计，能够...

主动式减震台空间6自由度主动减振-拥有全频段出色的抗振动效果，同时没有共振，LCD-加速度时间波形显示/加速度频谱显示。

薄膜厚度测量仪是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的定制仪器。 价格低廉， F10-AR 使线上操作人员经过几分钟的培训，就可以进行厚度测量。

薄膜厚度测量仪：使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。

主动式防震台水平自动调节功能即使负载重心偏离中心，自动的水平调节功能也可以让心偏回来，继续为仪器提供一个稳定的使用环境。

电阻率测量仪R50提供接触式四点探针（4PP）和非接触式涡流（EC）测量。电动X-Y载物台可额外使用定制样品架，样品测量可达300mm的，可测量面积可达200m...

薄膜厚度测量仪-膜厚仪：Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测...

Herz主动式减震系统平台为电子显微镜和类似的大型研究仪器提供的主动隔振性能(从0.5Hz开始)。UT-1000A平台通过消除，干扰测量的破坏性低频振动噪声，帮...

F54薄膜厚度测量仪的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米，可选择数十种内...

薄膜厚度测量仪以真空镀膜为设计目标，F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需简单操作。用户就能进行 FWHM 并进行颜色分析。

AVI-600系列 主动式防震系统为紧凑型的主动隔振系统，是纳米技术大型仪器隔振的解决方案。对升级和整合到现有的需要低频隔振功能的设备来说是不错的选择。

F3-sX薄膜厚度测量仪利用光谱反射原理，可以测试众多半导体及电解层的厚度，可测厚度达3毫米。此类厚膜，相较于较薄膜层表面较粗糙且不均匀，F3-sX系列配置10...

F54-XYT-300薄膜厚度测量仪具有集成的显微镜和实时摄像头，可以精确监控膜厚测量点。小尺寸的测量光斑允许测量有图案的样品，并且可以改良在较粗糙的材料上的测...