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所 在 地北京市
更新時(shí)間:2025-07-23 14:09:26瀏覽次數(shù):28次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)總有機(jī)碳(TOC)分析儀離線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,電氣 |
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在線XRF 光譜儀
Vanta iX在線XRF分析儀可以對(duì)材料進(jìn)行自動(dòng)分析
保持生產(chǎn)過(guò)程高速運(yùn)行
值得依賴的準(zhǔn)確性能
奧林巴斯Vanta iX在線X射線熒光(XRF)分析儀可以對(duì)生產(chǎn)線上的產(chǎn)品進(jìn)行自動(dòng)材料分析和合金牌號(hào)辨別,并即時(shí)提供結(jié)果,從而可對(duì)生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控,并對(duì)合金進(jìn)行100%無(wú)遺漏辨別。
這款分析儀可全天時(shí)、全天候(24/7)運(yùn)行,經(jīng)過(guò)配置,可提供通過(guò)/失敗結(jié)果、準(zhǔn)確的合金牌號(hào),以及材料的化學(xué)成分信息。
• 高分辨率:辨別多種合金牌號(hào),包括輕元素和重元素
• 快速提供準(zhǔn)確的結(jié)果:分析儀具有速度快、穩(wěn)定性強(qiáng),及高計(jì)數(shù)率等特性
• 高效率:配備了硅漂移探測(cè)器(SDD),并采用了受好評(píng)的Axon技術(shù)(所有Vanta分析儀都采用了這種技術(shù))
在金屬制造過(guò)程中對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行100%無(wú)遺漏檢測(cè)
對(duì)于采用工業(yè)4.0方案并對(duì)生產(chǎn)過(guò)程實(shí)施全天時(shí)、全天候(24/7)控制以驗(yàn)證合金的企業(yè)來(lái)說(shuō),可以使用Vanta iX分析儀對(duì)制造過(guò)程中的棒材、坯材、管材,以及機(jī)械加工零件和定制部件進(jìn)行材料驗(yàn)證和批次/爐號(hào)控制。使用Vanta iX分析儀對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行自動(dòng)化檢測(cè)提升了成品的價(jià)值,因?yàn)榭梢越璐俗C明材料經(jīng)過(guò)了100%的檢測(cè)和驗(yàn)證。
地質(zhì)選礦過(guò)程中的掃查和監(jiān)控
在地質(zhì)選礦和采礦方面,Vanta iX分析儀可以對(duì)巖芯進(jìn)行掃查,對(duì)傳送帶上的礦石進(jìn)行分析,并提供實(shí)時(shí)結(jié)果,以監(jiān)控選礦和采礦過(guò)程中發(fā)生的變化,并確保礦石品位的一致性。在對(duì)傳送帶上的礦石進(jìn)行分析的過(guò)程中,分析儀可以為精礦提供配礦驗(yàn)證和選礦驗(yàn)證。
在線XRF 光譜儀智能整合
Vanta iX分析儀上有幾個(gè)安裝孔,可方便地將分析儀安裝到現(xiàn)有的機(jī)器人或其他系統(tǒng)上。沒(méi)有外部控制箱,因此可以通過(guò)PLC(可編程邏輯 控制器)和離散導(dǎo)線,或者通過(guò)Vanta Connect API(應(yīng)用程序
編程接口)輕松控制分析儀。接口選項(xiàng):
• 以太網(wǎng)(RJ-45),可啟用以太網(wǎng)供電
• USB
• 離散I/O(16針)
• 輔助DC電源
堅(jiān)固耐用,適用于生產(chǎn)線環(huán)境
Vanta iX分析儀可以承受住生產(chǎn)設(shè)備的劇烈振動(dòng)、強(qiáng)烈的電磁噪聲和聲學(xué)噪音,并具有防塵和防潮的特性。
• 通過(guò)了振動(dòng)測(cè)試和機(jī)械撞擊測(cè)試(MIL-STD 810G)
• 符合IP54評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)
• 可以在–10 °C至50 °C的溫度范圍內(nèi)連續(xù)工作
內(nèi)置散熱器可以降低分析儀內(nèi)部的溫度,而通過(guò)機(jī)身上的風(fēng)扇連接點(diǎn)可將分析儀與風(fēng)扇連接,加強(qiáng)冷卻效果。無(wú)需使用工具,就可以更換分析儀的窗口,從而實(shí)現(xiàn)快速維護(hù)的目標(biāo)。
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Vanta iX分析儀的技術(shù)規(guī)格
外型尺寸(寬 × 高 × 厚) | 10 cm × 7.9 cm × 26.6 cm |
重量 | 2.4公斤 |
激勵(lì)源 | X射線管:銠或鎢陽(yáng)極靶材(應(yīng)用優(yōu)化),5 ~ 200 µA MR型號(hào):8 ~ 50 keV(最大4 W) CW型號(hào):8 ~ 40 keV(最大4 W) |
主光束濾光片 | 8種濾光片位置,根據(jù)選擇的光束和方式自動(dòng)匹配。 |
探測(cè)器 | MR型號(hào):大區(qū)域硅漂移探測(cè)器 CW型號(hào):硅漂移探測(cè)器 |
電源 | 通過(guò)以太網(wǎng)(PoE+)或者18 V AC電源適配器供電。 |
可檢測(cè)元素范圍 | 取決于方式: MR型號(hào):從鎂(Mg)到鈾(U)的元素 CW型號(hào):從鈦(Ti)到鈾(U)的元素(使用標(biāo)準(zhǔn)窗口并經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)) |
壓力校正 | 內(nèi)置氣壓計(jì),用于海拔和空氣壓力的自動(dòng)校正。 |
IP評(píng)級(jí) | IP54 |
操作環(huán)境 | 溫度范圍:?10 °C ~ 50 °C,可連續(xù)工作。濕度:相對(duì)濕度為10 % ~ 90 %,無(wú)冷凝。 |
操作系統(tǒng) | Linux |
應(yīng)用軟件 | 奧林巴斯專有的數(shù)據(jù)采集和處理軟件包 |
耐用性測(cè)試 | 功能性撞擊:通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G,方式516.6:撞擊程序I, 20g 11 ms(操作安全),40g 11ms(撞擊安全)中的測(cè)試。 |
振動(dòng)測(cè)試 | 通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G,方法514.4:一般振動(dòng),程序I附錄C, 圖514.6C-5中的測(cè)試,1小時(shí),一般暴露。 |
轉(zhuǎn)接墜落測(cè)試 | 通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIl-STD-810G,方法516.6:轉(zhuǎn)接墜落,程序IV中的測(cè)試, 26次墜落 |
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