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KLA Instruments太阳能电池量测解决方案

来源:德国韦氏纳米系统有限公司   2025年03月30日 02:23  

太阳能电池大多由单晶硅或多晶硅制成,将晶硅锭加工成太阳能电池需要一系列制造工艺,包括晶圆切割、制绒、酸洗、扩散、刻蚀、减反膜沉积、激光开槽、接触印刷等。下图为工艺流程中的测量节点。    

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太阳能电池工艺流程中的量测节点, 包括金刚石切割线的表面形貌、硅片翘曲/表面粗糙度/边缘倒角、电池片表面金字塔绒面高度和宽度的表征、减反膜厚度和反射率,以及激光开槽、太阳能金属栅线和主栅线的形貌。    

     

本篇应用说明主要介绍采用KLA Instruments的Zeta™ 3D光学轮廓仪对太阳能电池的表面金字塔结构、激光开槽、金属栅线和主栅线结构的测量与分析。    

     

Zeta光学轮廓仪广泛应用于太阳能电池的生产工艺流程中,包括: (i)用于硅片切割的金刚石线检测;(ii)硅片表面粗糙度、翘曲和边缘倒角的量化;(iii)金字塔结构的高度、尺寸、周期测量,以及绒面的比表面积分析;(iv)减反膜的厚度和反射率测量;(v)用于印刷银栅线的激光开槽形貌表征;(vi)金属线(细栅线和主栅线)的高度、宽度、横截面积和体积的测量。     

     

此外,Zeta可实现多点自动化测量,针对太阳能电池的应用具有全自动分析能力。相比于扫描电子显微镜(SEM)具有无损测量的优势,而其产能远高于原子力显微镜(AFM)。    

     

01操作原理     

Zeta光学轮廓仪采用ZDot™技术多模组光学系统,可测量不同样品的表面形貌,及亚纳米级至毫米级的台阶高度。系统包含两个高强度白色LED光源:光源1用于获取ZDot网格在Z方向的对比度变化信息,还原表面形貌;光源2用于保留样品的真彩色信息。    

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ZDot™ 技术示意图    

     

02晶硅太阳能绒面分析    

硅片表面的金字塔结构用于提升太阳能电池的光利用率。Zeta太阳能绒面解决方案可自动统计和分析视场中的金字塔结构,包含金字塔大小和高度的直方图、真彩色图像、金字塔结构的统计信息(大小、高度、数值和表面面积比率)。    

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金字塔分析界面,显示:具有金字塔峰位置自动识别和轮廓位置的 2D 图像(左上角);单晶硅绒面的3D图像(右上角);以及金字塔大小和高度的直方图(底部),其中红色曲线表示对数据的拟合。    

     

下图为用于分析特定于单晶硅和多晶硅的绒面结构的不同算法。系统可检测单晶结构每个金字塔的顶点,并计算高度、大小、计数和表面积,或检测多晶绒面的边界并完成相应的统计计算。同时,使用Zeta的多点测量功能,可以实现太阳能电池的多点位自动化测量。    

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单晶硅(左)和 多晶硅(右)的绒面结构。对于多晶硅结构,结构的边界被图像处理算法圈出。    

     

03激光开槽量测     

太阳能电池广泛采用激光开槽埋入式接点,以便提供基础结构以印制金属线。Zeta可测量激光开槽的宽度和深度,如下图。使用3D图像的特征查找功能,可自动寻找激光凹槽的边缘并分析深度和宽度。     

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激光开槽分析:(a) 2D 图像;(b) 3D 图像;(c) 2D 横断面分析结果。对于 2D 和 3D 图像,2D轮廓线来自于宽线范围的平均沟槽轮廓。    

     

04太阳能金属栅线表征      

太阳能金属栅线用于将绒面区域产生的电能传导到金属主栅线,主栅线又将电能传导到硅片边缘以到达外部电路。太阳能金属栅线的反射率非常高,而镀有减反膜的晶硅绒面反射率极低(< 5%)。Zeta 的HDR成像系统能够在非常暗的表面上,对高反射率的金属栅线进行精确的3D测量。     

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HDR 成像:使用低强度光从高反太阳能指状电极线(顶部)生成有效信号;使用高强度光从低反射金字塔结构(底部)生成有效信号。    

     

Zeta太阳能金属栅线程式可以自动测量和分析金属栅线,并根据多个横截面的数据分析太阳能金属栅线的平均高度、宽度、面积和体积等。     

此外,Zeta具有图像识别功能,可自动定位金属栅线并完成测量分析,无需手动寻找测量视场。    

     

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太阳能金属栅线分析:2D横截面轮廓(左上角)、具有横截面位置的2D图像(右上角)、2D横截面结果(左下角)和3D图像(右下角)。    

     

05太阳能金属主栅线表征     

与指状栅线相比,主栅线的结构更宽,通常为1500μm。Zeta的自动图像拼接技术可实现对主栅线的测量。    

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太阳能主栅线分析:2D 横截面轮廓(左上角)、具有横截面位置的 2D 图像(右上角)、2D 横截面结果(左下角)和包含自动拼接图像的 3D 图像(右下角)。    

     

06其他太阳能相关应用     

Zeta是一种通用测量工具,也可用于在太阳能电池加工的初始步骤中表征硅片,使用ZDot模式相移干涉模式(PSI)来计算未抛光硅片的表面粗糙度。下图为未抛光硅片的俯视图, 和硅片的翘曲测量。    

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用于面粗糙度分析的未磨光硅片的图像。用户选定的矩形定义计算所用的区域。    

     

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2D 晶圆翘曲测量结果量化了硅晶圆的高度变化。    

     

结论    

Zeta 光学轮廓仪可用于:太阳能电池的非破坏性和高产量测量。Zeta采用ZDot技术、HDR功能以及专为太阳能应用开发的算法和程式,可对绒面、激光凹槽、金属栅线和主栅线进行自动和全面的表征。    

     

Zeta系统开发了:专门为太阳能行业定制的算法和程式,可以对太阳能电池中关键的特征进行测量,助力工程师优化制造工艺,监控产品质量,以生产性能佳、成本优的太阳能电池产品。    

     


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