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目錄:上海邁科英諾科學(xué)儀器有限公司>>臺(tái)式掃描電鏡>>分析型臺(tái)式掃描電鏡>> NANOS臺(tái)式掃描電鏡

臺(tái)式掃描電鏡
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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌
  • 型號(hào) NANOS
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時(shí)間:2025-03-07 18:05:45瀏覽次數(shù):482評(píng)價(jià)

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臺(tái)式掃描電鏡是一種緊湊型、易于操作的掃描電子顯微鏡,旨在為實(shí)驗(yàn)室、工業(yè)和教育領(lǐng)域提供便捷的高分辨率成像和微區(qū)分析能力。

NANOS 臺(tái)式掃描電鏡是一款全面且高性價(jià)比的臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)。它采用新技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì),提供快速高質(zhì)量的SEM成像和元素分析。它的設(shè)計(jì)先進(jìn)且現(xiàn)代,非常適合科學(xué)研究、產(chǎn)品研發(fā)和工業(yè)用戶使用。此外,它還非常適合處理落地式場(chǎng)發(fā)射SEM儀器的常規(guī)樣品分析任務(wù)。憑借優(yōu)異的穩(wěn)定性、堅(jiān)固的設(shè)計(jì)和小巧的體積,NANOS 可在任何實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中使用,而無需特定的基礎(chǔ)設(shè)施。

 

NANOS標(biāo)配二次電子探測(cè)器(SED)和背散射電子探測(cè)器(BSD)。BSD具有四分割分別成像功能,通過使用不同區(qū)域信號(hào)的組合,能夠?qū)崿F(xiàn)樣品的成分或形貌細(xì)節(jié)獨(dú)立成像,以及通過從多個(gè)方向突出顯示表面而具有“投影成像效果”的圖像。SED則負(fù)責(zé)收集從樣品表面發(fā)射的電子,提供清晰且高分辨率的表面敏感成像。SED生成的圖像能夠傳達(dá)表面形貌信息,由于束斑與樣品相互作用體積較小,通常具有更高的分辨率。

 

元素分析

NANOS配備了一體式集成硅漂移能量色散X射線探測(cè)器(EDS)。通過用戶界面,用戶可以選擇EDX點(diǎn)分析或?qū)崟r(shí)元素面掃描。

 

優(yōu)中心樣品臺(tái)

NANOS是臺(tái)式掃描電鏡標(biāo)配優(yōu)中心設(shè)計(jì)樣品臺(tái),能夠通過用戶控制界面實(shí)現(xiàn)電動(dòng)XY軸樣品臺(tái)移動(dòng),在SEM成像模式下可采用優(yōu)中心設(shè)計(jì)樣品臺(tái)傾轉(zhuǎn)實(shí)現(xiàn)樣品傾斜觀察,且樣品始終保持聚焦?fàn)顟B(tài),無需重新對(duì)焦,用戶界面實(shí)時(shí)顯示精確樣品臺(tái)傾斜角度,最大傾斜角度為55°。

 

導(dǎo)航相機(jī)

NANOS在進(jìn)樣時(shí),標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航相機(jī)會(huì)自動(dòng)對(duì)樣品進(jìn)行拍照實(shí)現(xiàn)樣品精準(zhǔn)導(dǎo)航。即便在高倍下,用戶可以輕松確定樣品位置。

 

低真空成像

NANOS標(biāo)配低真空成像功能,低真空成像模式能夠有效減少或消除樣品荷電對(duì)成像的影響。當(dāng)在高真空模式下觀察不導(dǎo)電的樣品時(shí),電子積聚在樣品表面,會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重荷電現(xiàn)象,影響樣品觀察。NANOS 配備低真空模式以解決此問題。只需點(diǎn)擊鼠標(biāo),即可輕松從高真空切換到低真空。

 

用戶操作界面

NANOS軟件界面始終將SEM圖像放在屏幕的中心,通過直觀的軟件界面進(jìn)行簡(jiǎn)單設(shè)置,即可完成樣品拍攝。該軟件為僅需快速簡(jiǎn)單SEM成像的人提供簡(jiǎn)易模式,同時(shí)也為深入進(jìn)行樣品分析需求提供高級(jí)模式。用戶可以通過無線鼠標(biāo)和鍵盤控制NANOS,并可以通過iPad實(shí)現(xiàn)設(shè)備遠(yuǎn)程操控。導(dǎo)航位置光標(biāo)始終處于激活狀態(tài),用戶能夠清楚知道拍攝位置以及方便切換其他拍攝位置。

 

分析型臺(tái)式掃描電子顯微鏡

圖1 – 低真空模式圖像:風(fēng)干的未鍍膜角堇花瓣

 

分析型臺(tái)式掃描電子顯微鏡

圖2 – SE/BSE混合成像模式,可任意調(diào)節(jié)和顯示SE和BSE混合成像效果

 

分析型臺(tái)式掃描電子顯微鏡

圖3 – 空心針尖圖像,傾斜角度為-37°

 

 

 

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