测厚仪Fischerscope X-RAY XDL210

FISCHERSCOPE X-RAY XDL无锡骏展仪器供应采用了基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯（17）到铀（92）。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型的应用领域有：

• 测量大规模生产的电镀部件

• 测量超薄杜策，例如：装饰铬

• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

• 全自动测量，如测量印刷线路板

• 分析电镀溶液
  

FISCHERSCOPE X-RAY XDL菲希尔X射线测厚仪无锡骏展仪器供应设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途，有不同的版本。
XDL 210 型的工作台为固定式工作台，固定位置的 Z 轴系统。

XDL 220 型的工作台为固定式工作台，马达驱动的 Z 轴系统。

XDL 230 型配有可手动操控的 X/Y 工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。

XDL 240 型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。