FISCHERSCOPE X-RAY XDL240菲希尔

FISCHER 的台式涂镀层测厚仪使用 X 射线荧光法或多探头的接触式测量技术，能提供的性能和灵活性。由于运用了各种测量技术，因此能够为任何测量任务提供合适的解决方案。台式仪器可以通过软件和硬件接口轻松集成到生产和质量管理系统中。

菲希尔手持式X射线测厚仪XAN500

一台仪器，三种作业模式：XAN®500不只是一台手持便携式XRF设备，它还可以转变为台式仪器或者整合到生产线中。

MMS PC2

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菲希尔库伦法测厚仪CMS2

台式测厚仪，几乎可测量金属或非金属底材上所有金属镀层（包括多镀层）的厚度。

GOLDSCOPE

GOLDSCOPE系列X射线荧光仪器是专为分析黄金和其他贵金属而设计的

XAN

用于快速、高效地测量镀层厚度及材料成分分析的测量仪器。

XUL / XULM

基于 X 射线荧光法的测试仪器，坚固耐用，快速、高效地测量镀层厚度，特别适合电镀行业。