Fischerscope X-ray XDL210镀金层测厚仪

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210菲希尔X射线测厚仪典型的应用领域有：

? 测量大规模生产的电镀部件

? 测量薄镀层，例如装饰铬

? 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

? 全自动测量，如测量印刷线路板

? 分析电镀溶液

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210菲希尔X荧光射线测厚仪仪器规格

外部尺寸 宽x 深x 高[mm]：570 x 760 x 650

重量 XDL210：90 kg；XDL220：95 kg ；XDL230：105 kg；XDL240：120 kg

内部测量室尺寸 宽x 深x 高[mm]: 460 x 495 (参考“样品-大高度"部分的说明)

环境要求

操作温度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F

储藏或运输温度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F

空气湿度 ≤ 95 %，无结露