菲希尔X射线测厚仪Fischer

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY特性：

■X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务

■由于测量距离可以调节（大可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件

■通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可?。┦迪肿远呐坎馐?/p>

■使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY应用：镀层厚度测量

■大型电路板与柔性电路板上的镀层测量

■电路板上较薄的导电层和/或隔离层

■复杂几何形状产品上的镀层

■铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品

■氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

材料分析

■电镀槽液分析

■电子和半导体行业中的功能性镀层分析