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| 供货周期 | 一个月 | 应用领域 | 医疗卫生,能源 |
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覆盖扩展技术（CET）是 VTEP 和边界扫描的混合技术。它结合了 VTEP 和边界扫描的优点，并增强了是德在线测试系统的总体功能。
产品简介
详细介绍
湖南艾克赛普科技有限公司是一家专注于仪器工控设备、测试方案系统集成的高新技术科技企业。作为专业的仪器设备及测控集成ATE提供商，多年来坚持自主研发创新，结合引进代理各大的优质仪器设备，致力于提供更科学智能的软硬件测试方案，广泛应用于科研行业、生命科学、医学、化学、化工、材料、环境、地质、能源、药物、刑事侦查和其他相关领域。
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是德keysight N1169A-003 覆盖扩展技术
主要特性与技术指标
- 符合 IEEE 1149.1 和1149.6 标准
- CET 卡：输入电源 12Vdc
描述
覆盖扩展技术（CET）是 VTEP 和边界扫描的混合技术。它结合了 VTEP 和边界扫描的优点，并增强了是德在线测试系统的总体功能。
它如何进行工作？
- VTEP 传感器位于被测元件（例如连接器）上，它能够根据电容特性选取激励信号。
- 传统的 VTEP 方法需要有测点（例如通过探针）来提供激励信号。而覆盖扩展技术则是依靠边界扫描器件来提供激励信号。
- 边界扫描器件不需要每个引脚都放探针。
- 根据 IEEE 1149.x 标准（只使用测试接入端口），用户可以向连接器提供必要的激励信号。
- 边界扫描器件和 VTEP 传感器之间的路径缺陷（例如开路）将影响传送到传感器的激励信号。
- ICT 系统对结果进行捕获和诊断，因此会检测到缺陷！
- 广泛的测试范围，不需要测点
- 可节省夹具和 ICT 测试资源，降低测试成本
- 通过降低应力敏感型封装（例如 BGA）上的应力，提高电路板质量
是德keysight N1169A-003 覆盖扩展技术