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詳細(xì)介紹
日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT
F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)。可同時測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，無需復(fù)雜的設(shè)置，而且設(shè)置非常簡單。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，無需復(fù)雜的設(shè)置，而且設(shè)置非常簡單。
主要特點
集成測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)
光譜范圍廣，可選擇多種光源反射率和透射率同時測量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)時間記錄的相機測量位置放個樣品就行了。無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，設(shè)置非常簡單
主要應(yīng)用
平板光學(xué)鍍膜薄膜太陽能電池
| 聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學(xué)膜 |
| 玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質(zhì)涂層。 |
| CdTe、CIGS、非晶硅等 |
產(chǎn)品陣容
模型
F10-RT
-紫外線
F10-RTF10-RT
-近紅外
F10-RT
-近紅外
F10-RT
-UVX
測量波長
范圍
膜厚測量
范圍
性
光源
| 190 – 1100nm | 380 – 1050nm | 950 – 1700nm | 380 – 1050nm | 380 – 1050nm |
| 1nm – 40μm | 15nm – 70μm | 100nm – 150μm | 15nm – 150μm | 1nm – 150μm |
| ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ||
| 1納米 | 2納米 | 3納米 | 2納米 | 1納米 |
氘· 鹵素 | 鹵素 | 氘· 鹵素 | ||
測量示例
平板中使用的透明電極ITO的膜厚和折射率的測定例
同時測定反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件可即時分析薄膜厚度、折射率等。
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