18930218592
当前位置:上海富瞻环保科技有限公司>>产品展示>>物理特性仪器>>测厚仪
X射线镀层测厚仪?M1 ORA是适用于珠宝行业的台式X射线镀层测厚仪,结构紧凑、占用空间小。M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成,分析元素范围:原子序数2...
镀层测厚仪M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)-92号(铀)中的元素。分...
反射膜厚仪当一束光入射到薄膜表面时,薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉,干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关,反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。
美国DEFELSKO POSITECTOR 200B/A超声波涂层测厚仪是直接测量,无需校准即可满足大部分应用的超声波涂层测厚仪。
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,化工仪器网对此不承担任何保证责任。
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。