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詳細(xì)摘要： 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡，蔡司SUPRA 40VP場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上，低電壓下通過(guò)在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實(shí)原貌的立體感樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息

詳細(xì)摘要： 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX SUPRA25系列產(chǎn)品配備有經(jīng)過(guò)改進(jìn)的第三代GEMINI®鏡筒、概念新穎的樣品臺(tái)、智能化硬件控制板和新型高效率的透鏡內(nèi)二次電子探測(cè)器。SUPRA™系列場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是卡爾蔡司半導(dǎo)體事業(yè)部的納米技術(shù)系統(tǒng)部向市場(chǎng)推出的功能最多的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。具有當(dāng)前儀器所具有的所有特征：如在圖像質(zhì)量超高分辨率、工作電壓切換方便、出色的束流穩(wěn)定性、全分析型樣品室。

詳細(xì)摘要： 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡SUPRA 40VP是一款高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強(qiáng)性能加上多種納米工具的使用，不用花費(fèi)大量時(shí)間，使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類(lèi)型探頭及配件的選擇。該場(chǎng)發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過(guò)程控制，納米技術(shù)等。

詳細(xì)摘要： 二手電鏡二手鎢燈絲電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統(tǒng)用聚焦電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描成像，成像信號(hào)可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發(fā)射出的電流激發(fā)到樣品表面產(chǎn)生二次電子，通過(guò)信號(hào)收集和信號(hào)轉(zhuǎn)換到達(dá)屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的形貌的觀察。

詳細(xì)摘要： 供應(yīng)日立（二手）場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM 430型號(hào)掃描電鏡是一款具備超高分辨率的熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，主要用于獲得納米尺寸級(jí)別的樣品表面形貌信息，可在高真空下實(shí)現(xiàn)高壓和低壓的超高分辨率形貌檢測(cè)。配備兩種物鏡模式（浸沒(méi)式和無(wú)場(chǎng)式）。配備紅外CCD檢測(cè)相機(jī)，極靴內(nèi)二次電子檢測(cè)器，通用ET二次電子檢測(cè)器，低真空二次電子檢測(cè)

詳細(xì)摘要： 二手高分辨率場(chǎng)發(fā)射電鏡是電子顯微鏡的一種，掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征。

詳細(xì)摘要： 二手場(chǎng)發(fā)射顯微鏡SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。具有高性能x射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、半定量及定量分分析，具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。

詳細(xì)摘要： 二手場(chǎng)發(fā)射電鏡，二手SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡通用性強(qiáng)，可廣泛應(yīng)用于納米材料、金屬材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)化工、醫(yī)學(xué)及生物學(xué)領(lǐng)域，可高效觀察包括非導(dǎo)體樣品及強(qiáng)磁性樣品等。

詳細(xì)摘要： 二手日立場(chǎng)發(fā)射電鏡：貨供應(yīng)二手掃描電鏡,二手場(chǎng)發(fā)射電鏡,二手透射電鏡S-9300，S-9380，S-806C，H-7100，S-4700，S-4200，S-4160，S-3000N，S-2700，S-2400，TM-1000；臺(tái)式，桌面式Hitachi FE-SEM Field Emission Scanning Electron Microscope

詳細(xì)摘要： 二手電鏡JSM-6510功能/應(yīng)用范圍：應(yīng)用于無(wú)機(jī)材料、高分子材料、復(fù)合材料、納米材料、半導(dǎo)體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結(jié)構(gòu)觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質(zhì)分析 ? 微區(qū)成份分析；材料分析，檢測(cè)機(jī)構(gòu)，研發(fā)企業(yè)。