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詳細(xì)摘要： 借助F54-XYT-300薄膜厚度測量儀的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供快速的厚...

詳細(xì)摘要： 主動式防震系統(tǒng)主動式防振系統(tǒng)（ AVI）能夠為科研、工程和生產(chǎn)過程所需要的精密儀器提供一個穩(wěn)定的測量環(huán)境。。。。

詳細(xì)摘要： 桌上型主動式隔振臺特點：*TS 的隔震性能在0.7-100Hz 范圍提供6自由度3軸的主動隔震。*自動高度調(diào)節(jié)讓儀器擺放隨心所欲.*水平自動調(diào)節(jié)功能即使負(fù)載重心...

詳細(xì)摘要： 桌上型主動式減震臺*空間6自由度主動減振-擁有全頻段的抗振動效果，同時沒有共振*LCD-加速度時間波形顯示/加速度頻譜顯示*潔凈室兼容設(shè)計-封閉式鋁制機(jī)身與臺面...

詳細(xì)摘要： 主動式減震系統(tǒng)*空間6自由度主動減振-擁有全頻段的抗振動效果，同時沒有共振*LCD-加速度時間波形顯示/加速度頻譜顯示*潔凈室兼容設(shè)計-封閉式鋁制機(jī)身與臺面，避...

詳細(xì)摘要： UNICORN α500 系列低頻消磁系統(tǒng)（ EMI Canceling System，又稱消磁器），DC 與 AC 雙模式主動消磁器，采用高精度純直流測量/反...

詳細(xì)摘要： 一些靈敏度很高的儀器可能是一個自然諧振頻率的被動系統(tǒng)，可以用主動隔振系統(tǒng)消除共振。 KURASHIKI 通過在發(fā)展主動防震系統(tǒng)的同時補(bǔ)充了被動系統(tǒng)，主動防震系統(tǒng)...

詳細(xì)摘要： mini 桌上型主動式隔振臺新設(shè)計，易使用

詳細(xì)摘要： Filmetrics薄膜厚度測量儀：F3-sX系列膜厚測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測大厚度達(dá)3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面...

詳細(xì)摘要： Filmetircs 光學(xué)膜厚測量儀滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統(tǒng)，如需了解更多 光學(xué)膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。

詳細(xì)摘要： HORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀是新型的全自動薄膜測量分析工具。采用工業(yè)化設(shè)計，操作簡單，可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于快速薄膜測...

詳細(xì)摘要： Filmetrics R54四探針電阻率測量儀是KLA薄膜電阻和導(dǎo)電率測繪系統(tǒng)，從半導(dǎo)體制造到實現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜...

詳細(xì)摘要： Filmetrics R50四探針電阻率測量儀系列提供接觸式四點探針（4PP）和非接觸式渦流（EC）測量。

詳細(xì)摘要： -Filmetrics膜厚測量儀-F54系列的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)4...

詳細(xì)摘要： Zeta-20白光共聚焦是一款緊湊牢固的全集成光學(xué)輪廓顯微鏡，可以提供3D量測和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot™技術(shù)，可同時采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和Tr...

詳細(xì)摘要： P-17臺階儀支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達(dá)200mm而無需...

詳細(xì)摘要： P-170臺階儀是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，可提供幾納米至一毫米的臺階高度測量功能，適用于生產(chǎn)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對臺階高度、粗糙度、翹...

詳細(xì)摘要： Nanosurf 真空環(huán)境用原子力顯微鏡AFM產(chǎn)品主要特點:實時在您的真空環(huán)境中進(jìn)行AFM分析方便集成在SEM中進(jìn)行相關(guān)AFM分析兼容于大多數(shù)電鏡而不影響SEM...

詳細(xì)摘要： NanosurfAFM原子力顯微鏡產(chǎn)品主要特點:高起伏樣品或多個樣品自動納米機(jī)械性能分析針對不同模型來測量粘彈性、硬度、黏附力與壓入深度智能軟件自主處理測量需求...

詳細(xì)摘要： HORIBA 研究級經(jīng)典型橢偏儀是一種無損無接觸的光學(xué)測量技術(shù)，基于測量線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變，通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的...