Bowman K系列 XRF 高精度镀层测量系统

Bowman K系列 XRF 高精度镀层测量系统产品介绍：

Bowman K系列 XRF 高精度镀层测量系统在高度不超过9英寸(228mm)的工件上具有12英寸(304mm)x12英寸(304mm)可测量区域。自动多准直器允许选择光斑尺寸，以适应各种特征尺寸;可变焦摄像头允许在0.25英寸到3.5英寸的焦距范围内进行测量。伺服电机驱动的可编程平台可实现快速、准确的可编程样品定位。悬臂门设计方便操作人员进行样品放置

表格视图功能可对整个可测量区域进行成像，操作员只需单击鼠标即可导航到任何位置。内置操纵杆可让操作员从系统的控制面板上移动XY平台，而无需软件干预。与所有其他Bowman XRF 系统一样，K系列高精度镀层测量系统符合ASTMB568、ISO3497和IPC-4552标准。

Bowman K系列 XRF 高精度镀层测量主要功能：

• XYZ行程：X：12英寸（304mm）Y：12英寸（304mm）Z：9英寸（228mm）

• 可选配带工作台视图的双摄像头

• 伺服电机驱动的可编程工作台，移动精确、快速、平稳

• 内腔尺寸（WDH）：24英寸（609mm）、24英寸（609mm）、9英寸（228mm）

• 工作台尺寸：12英寸（304.8mm）x12英寸（304.8mm）

• 高分辨率硅漂移探测器（SDD）

• 封闭式腔体设计

• 可同时测量多达5个涂层

• 可选内置操纵杆

• 可选内置电子停止装置

• 悬臂门便于样品存取

• 提供RoHS选件

Bowman K系列 XRF 高精度镀层测量系统优势：

XRF系统

高分辨率的固态探测器具有良好的元素分辨能力，无需二次滤波器。峰位长时间保持稳定，无需频繁地进行再校准。X射线管和探测器的闭合耦合几何布局提供了更多的光子数量。这使得Bowman系统能够以相对短的测量时间实现低的检测限和相对高的精度。

直观的用户界面

软件将为仪器的性能提供有力的支持。Bowman镀层测厚仪的分析数据拥有功能丰富的软件作为支持，该软件将拥有直观的用户界面，操作简单友好。测量数据可通过批次号进行检索，报告可一键生成。用户可以无限制地创建新的应用程序和报告格式，所有结果自动保存到电脑数据库，所有用户级别都可以设置密码?；ぁ?/span>

广泛的镀层厚度测量范围

BowmanXRF高精度镀层测量系统可对13号铝元素到92号铀元素进行高精度测量分析。

• 单层镀层：Au，Ag，Ni，Cu，Sn，Zn等

• 合金镀层：ZnNi合金，SnPb合金等镀层厚度和成分比例同时分析

• 双层镀层：Au/Ni/Cu，Sn/Ni/Cu，Cr/Ni/Fe等

• 三层镀层：Au/Pd/Ni/Cu等

• 至多可分析5层镀层

• 可同时分析25种元素成分

• 可分析电镀溶液中的金属离子浓度

• 可分析ROHS有害元素

Bowman XRF 高精度镀层测量服务支持：

Bowman为用户提供XRF技术支持和服务。目前，除美国芝加哥总部外，Bowman已在全球四大洲二十余个国家建立了办事处或机构。Bowman始终致力于通过提供现场技术支持服务。Bowman在中国上海设有演示应用中心，培训中心及备品配件库，在深圳，杭州，西安设有办事。有能力为客户提供良好的的镀层厚度检测方案和快速良好的售后服务。

Bowman K系列 XRF 高精度镀层测量系统配置：

Bowman K系列XRF高精度镀层测量系统的标准配置包括一个4位(4、8、12和24mil)多重准直器;可选尺寸为2x2mil至60mil。可变焦距便于在凹陷区域进行测量。同服电机驱动的可编程平台可通过可选的xyz程序进行零件测量。程序可使用模式匹配和自动对焦来确保测量的准确度。

与所有Bowman XRF高精度镀层测量系统一样，K系列配备了标准的硅漂移探测器(SDD)和长寿命微聚焦x射线管。

Bowman K系列 XRF 高精度镀层测量系统测量原理：

?BowmanXRF射线装置利用X射线荧光原理测量镀层和成分。当高能X射线照射金属薄膜表面时，入射光子击出薄膜或基底材料原子的内层电子形成空穴。外层电子跃迁填补空穴时释放特征X射线荧光，其能量与元素的原子序数一一对应，通过荧光的能量我们可以知道样品中存在哪些元素，通过XRF的强度我们可以分析获得样品的厚度和每个元素的成分。

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Bowman K系列 XRF 高精度镀层测量系统行业应用：

Bowman K系列 XRF 高精度镀层测量系统产品参数：

Bowman K系列 XRF 高精度镀层测量系统实机图：