KLA 探针式表面轮廓仪 参考价：面议
KLA D500 探针式表面轮廓仪的光学杠杆传感器技术提供高分辨率、较大的高度测量范围和准确的微力控制。探针的接触式测量技术的优点是直接测量，与材料特性无关。多...
KLA 探针式表面轮廓仪 参考价：面议
KLA D600 探针式表面轮廓仪采用光学杠杆传感器技术提供高分辨率、较大的高度测量范围和准确的微力控制。探针的接触式测量技术的优点是直接测量，与材料特性无关。...
KLA 探针式台阶仪 参考价：面议
KLA P-7 探针式台阶仪是KLA公司的探针式台阶仪系统。KLA P-7 探针式表面轮廓仪建立在P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。它保持了P-17技...
KLA 探针式台阶仪 参考价：面议
KLA P-17 探针式台阶仪是P系列探针式台阶仪的产品。该系统具备可编程扫描平台、低噪声电子分辨率，垂直范围内实现高分辨率扫描，能够覆盖样品表面整个区域。KL...
KLA 全自动探针式表面轮廓仪 参考价：面议
KLA P-170 全自动探针式表面轮廓仪一款盒对盒型台阶仪，具有KLA P-17 探针式表面轮廓仪的台式系统测量性能和HRP260系统经生产验证的处理程序。该...
KLA 光学轮廓仪 参考价：面议
KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉轮廓仪。KLA Profilm3D 光学轮廓仪使用垂直干涉扫描(WLI)技术与相位干涉(PSI)技术。以较低的价格...
KLA 表面光学轮廓仪 参考价：面议
KLA Zeta-388光学轮廓仪是非接触式三维表面形貌测量系统。该系统在Zeta-300光学轮廓仪的基础上，增加了用于全自动测量的机械手臂操作系统。Zeta-...
KLA 白光共聚焦显微镜 参考价：面议
KLA Zeta-20白光共聚焦显微镜基于ZDot技术而来。Zeta-20 白光共聚焦显微镜可以对大部分材料和结构进行成像分析，从光滑到高粗糙度、低反射率到高反...
Filmetrics 自动光反射膜厚测量仪 参考价：1
Filmetrics F60-t 自动光反射膜厚仪就像我们的F50白光干涉膜厚测量仪产品一样。主要测绘薄膜厚度和折射率。但它增加了许多用于生产环境的功能。这些功...
Filmetrics 单点光学膜厚测量仪 参考价：面议
无论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，...
Filmetrics 薄膜厚度测量仪 参考价：面议
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪是以Filmetrics F20 白光干涉仪膜厚仪为基础所发展而来。F10-HC 薄膜厚度测量系统接触式探头大...
Filmetrics 薄膜厚度测量仪 参考价：面议
Filmetrics F10-AR 薄膜厚度测量仪是操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测设备。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度测量仪使得自动测试眼...
Filmetrics 薄膜厚度测量仪 参考价：面议
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪以真空镀膜为设计目标，F10-RT 薄膜厚度测量仪只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需简单操作。用户就能...
Filmetrics 光学厚膜测厚仪 参考价：面议
Filmetrics F3-sX 光学厚膜测厚仪利用光谱反射原理，可以测量厚度达到3毫米的众多半导体及介电层薄膜。相对于较薄的膜层，这种厚膜的表面较粗糙且不均匀...
Filmetrics 光学膜厚测量仪 参考价：面议
Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪的光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结...
Filmetrics 光学膜厚测量仪自动化MAPPING 参考价：面议
Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪依靠光谱测量系统，可以简单且快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，...
Filmetrics 光学膜厚测量仪 参考价：1
Filmetrics F54 白光干涉膜厚测量仪能以一个电动R-Theta平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450...
Filmetrics 光学膜厚测量仪 参考价：面议
Filmetrics F32 光反射式膜厚仪特殊的光谱分析系统采用半宽的3u rack- mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置(EXR和UVX...
Filmetrics 自动测量光学膜厚仪 参考价：面议
Filmetrics F54-XYT-300 自动测量光学膜厚仪借助F54-XYT-300的光谱反射系统，可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度...
Filmetrics 自动光学膜厚测量仪 参考价：面议
Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪借助光谱反射系统，可以测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的...
Filmetrics F20 白光干涉测厚仪仪 参考价：面议
Filmetrics F20 白光干涉膜厚测量仪是一款高精度、多功能的测量设备，能够快速测定薄膜厚度、光学常数、反射率和透过率等特性。其非接触式测量方式适合各种...
KLA 四探针电阻率测量仪 参考价：面议
KLA R54 四探针电阻率测量仪是KLA的电阻率测量产品。从半导体制造到实现可穿戴技术所需的柔性电子产品，薄膜电阻监控对于任何使用导电薄膜的行业都相当重要。K...
KLA 四探针电阻率测量仪 参考价：面议
KLA R50 四探针电阻率测绘系统是KLA电阻测试系列的产品。电阻测量和监控对于任何使用导电薄膜的行业都相当重要，从半导体制造到可穿戴技术所需的柔性电子产品。...
KLA 纳米压痕仪 参考价：59
KLA iNano 纳米压痕仪可轻松测量薄膜、涂层和少量材料。该仪器准确、灵活，并且用户友好，可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。该仪...
7