目录:优尼康科技有限公司>>薄膜轮廓与粗糙度测量>>Zeta白光共聚焦>> Zeta-388KLA 表面光学轮廓仪
产地类别 | 进口 | 产品种类 | 非接触式轮廓仪/粗糙度仪 |
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价格区间 | 面议 | 应用领域 | 医疗卫生,生物产业,电子/电池,汽车及零部件 |
KLA Zeta-388光学轮廓仪是非接触式三维表面形貌测量系统。该系统在Zeta-300光学轮廓仪的基础上,增加了用于全自动测量的机械手臂操作系统。Zeta-388光学轮廓仪采用ZDot技术和多模组光学系统,可测量各种不同的样品:包括透明与不透明、低至高反射率、光滑到粗糙的表面,以及亚纳米级到毫米级的台阶高度。KLA Zeta-388光学轮廓仪支持OCR和SECS/GEM,从而可用于全自动产线的生产制造。
快速的非接触式三维光学轮廓仪
多模组光学系统提供3D扫描、差分干涉、薄膜厚度和自动缺陷检测
全自动测量
同时提取样品表面的真彩色信息和形貌信息
支持100至200mm的晶圆
支持OCR和SECS/GEM,适用于自动化产线的生产环境
用户界面简洁直观
从纳米级到毫米级的台阶高度,可用于高深宽比台阶测量
从亚纳米级至亚毫米级的表面粗糙度分析,适用于光滑表面和粗糙表面
Z向高分辨率的白光干涉测量,可用于广域台阶高度测量
移相扫描干涉技术可快速测量小于250nm的台阶高度
薄膜应力和样品翘曲测量
测量30nm到100μm透明薄膜的厚度,可提供薄膜均匀性数据和薄膜厚度分布图
自动缺陷检测,可识别横向尺寸大于1μm的缺陷
KLA Zeta-388 光学轮廓仪?的原理?是通过共聚焦原理实现样品的高分辨率、高对比度的光学切片能力。它结合了传统光学显微镜和激光共聚焦显微镜的特点,利用宽谱白光作为光源,通过空间滤波机制消除离焦光干扰,从而获得高精度的三维图像
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