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CAMTEK  自动光学检验AOI设备Fan-out

Camtek先进的校准和诉讼机制结合专用的检验和计量能力解决挑战性的Fan-out

的过程。
我们的系统支持表面检验能力和*的计量信息死层之间结合位置对齐数据。
系统生成各种报告,增加产量和提高产量。

功能

•RDL检查和计量
•检查多层晶片
•多种光学设置所有步骤和缺陷类型
•3 d高度和co-planarity测量
•死位置测量

技术

•Camtek*的白光三角测量传感器
•先进的缺陷检测和计量处理引擎
•高分辨率三维共焦传感器
•光干涉测量技术对3 d

产品

Eagle-AP

Eagle-AP提供2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持*的性能和吞吐量水平。

Eagle-i

的2 d表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。

EagleT-AP

为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持*的性能和吞吐量水平。

EagleT-i

设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个最快的和的2 d检查工具在市场上。