布鲁克 D8 Venture X射线单晶衍射仪

2^nd D8 VENTURE/QUEST—面向未来的单晶X射线衍射仪

2^nd D8 VENTURE/QUEST是布鲁克公司推出的功能强大的X射线单晶衍射仪。一体化的设计，配备目前世界上先进的光源以及PHOTON II CPAD探测器，帮助您测试   富有挑战性的晶体，获得质量高的数据。其主要特点为：

1、同时适合小分子晶体学和蛋白质晶体学的研究需要，应用范围广。

2、新一代的Ius 3.0微焦斑光源，性能媲美微焦斑转靶，零维护，寿命超长。

3、液态金属靶MetalJET，室neiX射线光源，强度远远高于微焦斑转靶，让您拥有个人的“同步辐射”，解决困难的晶体学问题，比如GPCR膜蛋白的结构。

4、采用四代光源XFEL探测器技术的PHOTON II CPAD探测器，超大面积，超快速度，*，单光子检测的灵敏度。

5、双靶配置，软件自动切换光源。满足不同类型的研究需要。元件自动识别，智能化光路管理。

6、新一代的APEX3/PROTEUM3软件，功能强大，智能化程度高，轻松操控仪器，获得好数据。

布鲁克 D8 DISCOVER  X射线多晶衍射仪

D8 DISCOVER

D8 DISCOVER with Davanci Design
布鲁克公司全新的D8 DISCOVER X射线衍射仪，材料研究领域的先进X射线衍射系统。采用创造性的达芬奇设计，配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及*集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面nei掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。
主要应用
高分辨XRD(HRXRD)
外延多层膜厚度；晶胞参数；晶格错配；组份；应变及弛豫过程；横向结构；镶嵌度
X射线反射率(XRR)
薄膜厚度；组份；粗造度；密度；孔隙度
倒易空间图谱(RSM)
晶胞参数；晶格错配；组份；取向；弛豫；横向结构
面nei掠入射衍射 (in-plane GID)
掠入射小角X射线散射(GISAXS)
晶胞参数；晶格错配；横向关联性；取向；物相组成；孔隙度
应力和织构分析
取向分布；取向定量；应变；外延关联；硬度
物相鉴定(Phase ID)
物相组成；d值确定；择优取向；晶格对称性；晶粒大小