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晶圓測厚儀 MX203-4-21
晶圓測厚儀 MX203-4-21是一款手動載片的晶圓幾何特性量測儀，適用于直徑分別為 50 mm、75 mm和 100 mm的硅片。該設(shè)備專為控制晶圓厚度與形狀...

型號：所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/24 10:45:20 對比

晶圓測厚儀晶圓厚度測量儀晶圓厚度測量儀器晶圓厚度測量晶圓TTV測量
晶圓厚度測量儀 MX 102-8
晶圓厚度測量儀 MX 102-8適用于 150 - 200 mm硅片的高分辨率厚度與平整度（TTV）測量儀。只需幾秒鐘即可輕松適應(yīng)不同厚度范圍，可集成到自動機(jī)器...

型號：所在地：國外參考價：面議更新時間：2025/6/19 18:08:32 對比

晶圓厚度測量儀晶圓測厚儀晶圓厚度測量設(shè)備非接觸式晶圓厚度測量儀晶圓測厚
全自動接觸角測量儀
SURFTENS HL 200 automatic全自動接觸角測量儀專為半導(dǎo)體工業(yè)和科研領(lǐng)域設(shè)計(jì)，尤其適用于晶圓涂覆及光刻工藝中的工藝控制。

型號： SURFTENS ... 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 15:59:45 對比

全自動接觸角測量儀接觸角測量儀接觸角測試儀接觸角測定儀接觸角儀
晶圓接觸角測量儀
SURFTENS HL 200 晶圓接觸角測量儀專為半導(dǎo)體工業(yè)及科研領(lǐng)域開發(fā)，特別適用于硅片表面處理過程中的工藝控制。它是分析硅片接觸角與潤濕性的理想工具，能夠...

型號： SURFTENS ... 所在地：國外參考價：面議更新時間：2025/5/29 21:38:53 對比

接觸角測量儀接觸角測試儀接觸角測定儀接觸角儀光學(xué)接觸角測量儀
薄膜應(yīng)力測試儀
FLATSCAN 薄膜應(yīng)力測試儀用于對各種反射面（如硅片、鏡面、X 射線鏡（Goebel-mirrors）、金屬表面或拋光聚合物）的平整度、表面曲率、平均半徑和...

型號： FLATSCAN 所在地：國外參考價：面議更新時間：2025/5/22 11:12:53 對比

應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀應(yīng)力檢測儀應(yīng)力儀應(yīng)力測試設(shè)備