Up Down Look-0.84x上下对位光学系统
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 深圳山河精测科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号
- 产地
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2025/7/22 11:38:49
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工业显微镜,超声波探伤仪,超声波测厚仪,涡流探伤仪,相控阵探伤仪,工业内窥镜,双折射应力仪,三坐标,工业镜头,显微镜物镜,非接触3D测量仪,激光共聚焦显微镜,纳米压痕仪,显微镜下微取样系统,无掩膜曝光系统。
应用领域 | 化工 |
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Up Down Look-0.84x
Up Down Look-0.84x是一款上下对位光学系统,支持1/2.5英寸相机,镜头倍率-0.84x,物方分辨率6um,并且自带同轴点光源照明,也可以集成环形光源。镜头接口是C口,可根据客户定制不同的镜头。
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主要特性: | 应用领域: | |
•放大倍率:-0.84x •最大支持靶面:1/2.5 inch •相机最大分辨率: 2592*1944 •相机像元尺寸:2.2um •工作距离:上下通道 10mm •视野:上下通道 6.8*5.2mm •NA:0.05 •分辨率:6um •景深:0.2mm •畸变:0.2% •镜头接口:C口 | •半导体封装贴合 •半导体精密对位 •摄像头模组对位与检测
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镜头规格
型号 | 放大倍率 | 视野 | 工作距离 | 像场 | 像元尺寸 |
Up Down Look-0.84x | 0.84x | 6.8mm*5.2mm | 10mm | 1/2.5 inch | 2.2um |
镜头2D尺寸: