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Dual vision -2.0x/-8.0x 是一款双光路、双倍率光学系统，支持2/3英寸相机，镜头倍率-2.0x/-8.0x，物方分辨率1.15um，并且自...

FC UD Optics -3.0x 是一款上下对位光学系统，支持1.1英寸相机，镜头倍率-3.0x，物方分辨率1.15um，并且自带同轴点光源照明，也可以集成...

Up Down Look-0.84x是一款上下对位光学系统，支持1/2.5英寸相机，镜头倍率-0.84x，物方分辨率6um，并且自带同轴点光源照明，也可以集成环...

多功能通用晶圆搬运机系统YIT系列对应各种检查装置，适用于晶圆、玻璃相关产品自动搬运系统

显微镜隔振平台VIP-320/3200系列减少对镜头、分析仪器等的振动。非常适合高倍观察和显微镜操作。

Photron在线双折射分布检测系统可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的双折射相位差分布检测系统KAMAKIRI

Photron离线双折射分布检测系统可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的双折射相位差分布检测系统KAMAKIRI

奥林巴斯手持光谱仪可以在现场指明多种珠宝和贵金属的特性，这些贵金属包括金、银、铂、钯等。分析仪可以根据含金纯度为含金合金精确地进行分类（0到24克拉），而且还可...

奥林巴斯相控阵探伤仪OmniScan SX在其8.4英寸触摸屏上使用了合理简化的新型软件界面。OmniScan SX是一款单组无模块仪器，针对检测要求较低的应用...

工业定制镜头是一款高分辨率远心镜头，并且该光学镜头 带内同轴照明接口 ，支持至大 17.6mm 靶面相机 ，镜头倍率- 0.345x 。物方分辨率 2um 。镜...

AVS高速相机短波红外相机特点：img1G-032 TEC1千兆网视觉InGaAs相机VGA分辨率以太网供电紧凑型工业级设计无风扇设计高动态范围

up down vision光学系统，用于半导体封装与贴合精密对位与精密检测

X射线荧光镀层X射线荧光镀层测厚仪可完成镀层厚度测量、元素分析、电镀液分析。最多同时测量5层（4层镀层+底材），每层可同时分析10种元素。成分测量可同时分析25...

显微镜下微取样系统CollectionPro：微小矿物自动挑选/采集/集聚系统将耗费矿物学研究者时间和精力的挑选、采集、集聚作业变得省力。通过结合图像处理系统和...

超微小纳米压痕仪通过减少测量环境的干扰实现高数据再现性，适用于0.5uN-2000mN的广泛实验负载。

显微镜LED无掩膜曝光系统 UTA-IA系列是不需要使用光罩就可以完成曝光的Pattern投影式曝光设备。

R-Testing-72是一款高性能AR虚像成像测试-Conoscope系统，镜头设计靶面支持至大全画幅43.2mm，支持相机分辨率61M（9568*6380）...

VR-Pancake 镜片光轴相对角度测量仪主要规格视野范围：至大φ80mm像素：至大616 x 514 画素(约30万画素)测量波长：466nm,543nm,...

VR-Pancake 镜片内应力相位差测量仪主要规格视野范围：至大φ80mm像素：至大616 x 514 画素(约30万画素)测量波长：466nm,543nm,...

目前与奥林巴斯、日本photo Lattice、日本Micro Support等企业达成长期代理与合作；主要代理产品包括：奥林巴斯工业显微镜系列，奥林巴斯工业探...