手动简易探针台可吸附多种规格芯片与器件，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成对半导体器件的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。主要通过连接仪器及待测物实现器件的参数提取，通过自带的驱动及测试软件能够独立实现器件的电学特性测试，为精密器件提供一个良好的系统平台。手动简易探针台可以搭配多种测试仪器使用，比如示波器，频谱仪，IV等等。

通过探针接触的方法给器件施加光电信号来测量半导体器件伏安特性（即电压-电流特性）的仪器，在测量及选用半导体器件时有着广泛的用途。

特点

-可选配高温测试环境

-可选直筒显微镜和体式显微镜

-载物台可Z轴升降

-载物台Theta可粗调360°，微调±7°

-载物台XY移动分辨率为1um。

-可选配高压高流测试环境

-快速装片并可任意位置锁定功能

-显微镜支架万向杆

可选配件

-射频测试探头及电缆

-低漏电电流/电容测试

-激光修复

-探针卡/封装/PCB 板夹具

-有源探头

-高压高流模块

-高清数字相机

-Hot Chuck

-载物台水平调节机构

兼容仪器

-各种型号示波器

-各品牌半导体参数分析仪，博测，是德，泰克，概伦等

-各种品牌的网络分析仪，是德，罗德施瓦茨， 思仪等

-各种品牌型号的源表

也可使用自己搭建的半导体参数分析仪。

应用领域

-Failure analysis 集成电路失效分析

-Wafer level reliability 晶元可靠性认证

-Device characterization 元器件特性量测

-Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析)

-IC Process monitoring 制成监控

-Package part probing IC封装阶段打线品质测试

-ESD&TDR testing ESD和TDR测试

-Microwave probing 微波量测(高频测试)

-Solar太阳能领域检测分析

-LED、OLED、LCD领域检测分析

-PCB领域检测分析

-VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试

可根据具体需求定制，大部分需求都可满足，欢迎联系！