NDA 500型X荧光光谱仪主要配置

?SDD硅漂移电制冷半导体探测器

?侧窗钼（Mo）靶管

?标配16组复合滤光片

?配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器

?具有自动Mapping功能

?具备符合中国国家标准的样品混侧功能

?内置标准工作曲线

?配置On-line实时在线技术支持与服务平台

?具备开放工作曲线技术平台

?分析软件操作系统分级管理

NDA 500型X荧光光谱仪产品参数

?名称：X荧光光谱仪

?型号：NDA500

?输入电压：220±5V/50Hz

?消耗功率：≤500W

?环境温度：15-30℃

?环境湿度：≤80%（不结露）

?主机外形（mm）:长＊宽＊高=900*500*440

?样品仓（mm）:长＊宽＊高=430*380*120

?主机重量：约60公斤

技术指标

?元素种类：元素周期表中硫（S）～铀（U）之间元素

?测量时间：

        对聚合物材料，典型测量时间为30秒

        对铜基体材料，典型测量时间为30秒

?检出限指标（LOD）：

        对聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg

        对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

?精密度指标，以连续测量7次的标准偏差σ表征：

    对聚合物（塑胶）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg

        对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

?准确度指标，以系统偏差δ进行表征

        对聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg; δ（Hg）≤100mg/Kg; δ（TBr）≤100mg/Kg; δ（TCr）≤100mg/Kg; δ（Cd）≤10mg/Kg

        对铜基体材料：δ（Pb）≤150mg/Kg