NaU-E650型 X荧光光谱仪主要应用特点：

采用纳优专业技术的全新光路设计，显著抻高分析精度和数据可靠性，减小灰色地带区间，节省外送检测成本；

行业内全配置的12组滤光片（行业内一般配置≤8组），实现大自动精度选择空间。

提供开放式工作曲线标定技术平台，可为用户量身定做有害物质检测和控制方案；

全自动一键式操作－载物平台、样品室、准直器、滤光片、照射光斑定位等全部自动操作；

测试时间在100－400秒间自行设定（系统自动默认设定200秒）；

经典可靠的迷宫式辐射防护结构，结合软硬件多重保护，确保辐射安全性能；

测量元素范围：Na-U.

NaU-E650型 X荧光光谱仪主要应用技术指标：

（针对RoHS指令要求，按照*电子信息产品污染控制技术促进中心《RoHS检测用Ｘ荧光能谱仪性能评价规范RoHSQ09-005》的定义和测试方法，筛选测试各种中的Pb、Cd、Hg、CrBrCl）

NaU-E650 进行XRF筛选允收标准示例（*值，按照IEC62321Edition 1.0 2008-12 标准帛定）。