FDMS 实验室薄膜介电测量仪
- 公司名称 武汉佰力博科技有限公司
- 品牌
- 型号 FDMS
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2025/3/31 15:24:03
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实验室薄膜介电测量仪技术规格
探针臂个数:4个或6个
测量温度: 10K~675K
测量精度:0.05%
测量参数:C电容
zui大样品尺寸:≤51mm
XYZ位移平台行程:X轴51mm,精度20μm;Y轴25mm,精度10μm;Z轴25mm,精
度10μm数据传输:4个USB接口
实验室薄膜介电测量仪测量原理
该系统配备SRS公司的CTC-100低温温控仪与Wayne Kerr阻抗分析仪和MEMS多
功能材料电学测量软件无缝连接,实现薄膜电介质材料的变温电学测量,无需客户
再编写应用程序,大大节约器件和材料研发时间。
样品温度准确性和温度稳定性是整个低温系统的关键,系统配置3个低温传感器,
一个在样品台上,一个在屏蔽罩上,一个在探针臂上,通过监测三个地方的温度,
确??梢蕴峁┮桓鲎既返目匚禄肪?。为了避免探针臂的温度传递到样品上,导致样
品温度高于样品台温度,探针臂和探针必须做热沉处理。
标准配置
Partulab CPS系列低温真空探针台:CPS-7000或CPS-80000;PPS-90真空辅助系统;
VSZ70KIT可视化视觉系统
Wayne Kerr 6500系列阻抗分析仪(选件):6500B精密阻抗分析仪
Partulab DielectricMeaskit 测量套件:FT-BNC 同轴真空BNC Feedthrough
CSH-DE 介电同轴样品固定座
DCP50R-W 50Ω阻抗碳化钨针,SMA接头,针尖半径25µm
PA-DE 介电测量探针臂
MEMS多功能材料电学测量分析软件