菲希爾 X 射線測(cè)厚儀 XDL 系列：型號(hào)與特點(diǎn)解析

菲希爾 X 射線測(cè)厚儀 XDL 系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線鍍層測(cè)厚及材料分析儀。該系列包含多種型號(hào)，各有特色，能滿足不同用戶的測(cè)量需求。

XDL 210 型配備固定式工作臺(tái)和固定位置的 Z 軸系統(tǒng)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本較低。適用于樣品測(cè)量位置相對(duì)固定的場(chǎng)景，如小型實(shí)驗(yàn)室對(duì)常規(guī)樣品的初步檢測(cè)。它運(yùn)用 X 射線熒光光譜法，通過(guò)自動(dòng)聚焦功能可精準(zhǔn)測(cè)量鍍層厚度，元素測(cè)量范圍涵蓋 Cl（17）-U（92），最多可同時(shí)測(cè)量 24 種元素、23 層鍍層。

XDL 220 型同樣是固定式工作臺(tái)，但采用了馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸系統(tǒng)，測(cè)量高度調(diào)節(jié)更便捷、精準(zhǔn)。適合五金加工企業(yè)等需要頻繁調(diào)整測(cè)量高度且對(duì)精度有一定要求的場(chǎng)景，可用于不同規(guī)格零部件的鍍層測(cè)量。

XDL 230 型配備可手動(dòng)操控的 X/Y 工作臺(tái)和馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。樣品在平面方向的定位更加靈活，能滿足復(fù)雜形狀樣品的多角度測(cè)量需求，常用于電子元器件、精密模具等對(duì)測(cè)量位置要求較高的產(chǎn)品檢測(cè)。它還可通過(guò)可編程 XY 工作臺(tái)與 Z 軸實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測(cè)試，長(zhǎng)期穩(wěn)定性良好，無(wú)需經(jīng)常校準(zhǔn)。

XDL 240 型是系列中的高級(jí)型號(hào)，擁有馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 X/Y 工作臺(tái)，保護(hù)門開(kāi)啟時(shí)工作臺(tái)自動(dòng)移到放置樣品的位置，操作便利性與安全性大幅提升。搭配馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化、智能化的測(cè)量流程，適用于大規(guī)模生產(chǎn)企業(yè)的在線檢測(cè)，以及對(duì)測(cè)量效率和自動(dòng)化程度要求高的科研機(jī)構(gòu)。