在環(huán)境可靠性測試中，“冷熱沖擊試驗”和“高低溫試驗”經(jīng)常被提及。不少初入行業(yè)的工程師會誤以為它們是同一回事，或隨意替代使用。

實際上，這兩者在試驗目的、方式、參數(shù)要求等方面存在顯著差異，若選型錯誤，不僅會影響產(chǎn)品驗證結(jié)論，甚至可能導致可靠性風險。

本文以各項國際標準依據(jù)，梳理技術(shù)要點，一次性理清它們的區(qū)別。

一.冷熱沖擊試驗：瞬間破壞、考驗結(jié)構(gòu)失效

冷熱沖擊試驗是指試樣在兩個溫差較大的環(huán)境之間進行快速切換，考察其在劇烈熱脹冷縮作用下的適應性和結(jié)構(gòu)可靠性。常用于焊接結(jié)構(gòu)、封裝材料、電子器件等應力敏感型產(chǎn)品的破壞性篩選或設(shè)計驗證。

?? 參考標準：

《GB/T 2423.22-2012》：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗N：溫度變化

《IEC 60068-2-14:2009》：Test Na（快速溫度變化）

《MIL-STD-883H Method 1010.8》：電子元件用溫度沖擊試驗

二.高低溫試驗：緩變溫度、考察老化與適應性

高低溫試驗是一種程序控制的緩慢升降溫試驗，用于評估產(chǎn)品在多次熱應力交替作用下的疲勞老化特性，常用于整機、材料、結(jié)構(gòu)件的可靠性評估。

?? 參考標準：

《GB/T 2423.1-2021》：低溫試驗方法（Test A）；《GB/T 2423.2-2021》：高溫試驗方法（Test B）

《GB/T 2423.22-2012》：溫度變化（Test N）；《IEC 60068-2-14》：溫度變化試驗（Test Nb）

三.標準對比：冷熱沖擊 vs 高低溫試驗

四.實際測試中常見選型誤區(qū)

溫度循環(huán)也能看焊點開裂？

→ 由于溫變過慢，高低溫循環(huán)無法模擬突發(fā)熱應力；焊點裂紋等需要瞬間膨脹破壞的應力條件，必須通過冷熱沖擊方式暴露。

冷熱沖擊比高低溫循環(huán)更適用于各類溫度試驗？

→ 二者各有用途。冷熱沖擊用于設(shè)計極限測試或出廠前篩選，高低溫循環(huán)則更適合長期老化評估。混用測試方法反而會“錯殺”或“誤放”問題。

五.試驗箱說明：以三箱式冷熱沖擊試驗箱為例

以下為我司SETH賽思三箱式冷熱沖擊試驗箱結(jié)構(gòu)與參數(shù)，適用于GB/T、IEC、MIL等標準下的快速應力測試。

產(chǎn)品規(guī)格：SET-A3表示-40℃～+150℃/ A4表示-55℃～+150℃/A5.表示-65℃～+150℃

冷熱沖擊是“快準狠”的破壞驗證；高低溫循環(huán)是“慢扎實”的長期耐久篩查。