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　　台式薄膜厚度自动测量仪是一种用于精确测量薄膜、纸张、箔片、硅片等多种材料厚度的专业设备，以下从技术特征、适用范围、执行标准、操作功能等方面展开介绍：

　　一、技术特征

　　接触式测量：台式薄膜厚度自动测量仪采用机械接触式测量方式，将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面以一定压力落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。这种测量方式严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。

　　测量头自动升降：测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。

　　支持自动和手动两种测量模式：方便用户根据实际需求自由选择。

　　数据实时显示与分析：可实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。

　　配置标准量块用于系统标定：保证测试的精度和数据一致性。

　　支持多种实用功能：系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。

　　微电脑控制与人性化界面：系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。

　　数据传输与共享：具备标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输;支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告。

　　二、适用范围

　　适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。在塑料、橡胶、纸张、纺织品、金属箔片(如铝箔、铜箔、锡箔等)以及半导体材料等行业有广泛应用。

　　三、执行标准

　　台式薄膜厚度自动测量仪执行多项国内外标准，如ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等。