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技术原理
X射线吸收谱仪（XAS）基于X射线与物质中特定元素的相互作用。当X射线穿过样品时，特定能量的射线会被样品中的原子吸收，引发电子跃迁，发射出特定波长的X射线。这些发射的X射线携带样品原子结构和电子状态信息。XAS技术核心是精细调控X射线能量，激发样品中特定元素的电子跃迁，并测量X射线的能量和强度。通过分析吸收谱线的形状、位置和强度，能获取元素价态、配位环境、化学键类型以及局部电子结构等关键信息。
应用实例
在材料科学领域，XAS技术可用于研究材料的晶体结构、电子态以及元素分布。例如，在电池材料研究中，XAFS技术可进行原位测试，分析材料在电池充放电过程中元素价态和结构的变化，为电池性能优化提供依据。在化学领域，XAS技术能揭示化学反应机理，帮助科学家理解反应过程中的原子和电子结构变化。如天津大学一碳化工研究团队利用X射线吸收精细结构谱仪对CuxSi催化剂的电子结构和配位环境进行表征，为Cu-O-Si界面和Cu-Si核壳颗粒催化剂上的反应提供了新的见解。在生物学和医学中，XAS技术为研究生物大分子的空间构象以及疾病诊断和治疗提供新途径。此外，XAS技术还可用于金属材料成分检测、薄膜材料厚度测定、考古样品无损分析等场景。
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