菲希爾代理X射線測厚儀XDL230簡介

來源：無錫駿展儀器有限責任公司 2025年06月16日 14:46

菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X射線測厚儀是一款高精密能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）檢測設備，以下從其測量原理、性能優(yōu)勢、硬件配置、軟件系統(tǒng)、應用領域等方面進行介紹：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X射線測厚儀測量原理：

X 射線熒光光譜法：基于 X 射線熒光光譜分析技術，設備通過 X 射線源發(fā)射初級射線激發(fā)樣品，使元素原子內層電子躍遷產生特征 X 射線熒光。探測器精準捕獲熒光的能量與強度數(shù)據(jù)，從而實現(xiàn)對元素成分、鍍層厚度的定量分析。

基本參數(shù)法（FP 法）：內置 12 純元素頻譜庫（Ag、Cu、Fe、Ni、Zn、Zr、Mo、Sn、W、Au、Pb、Cr），無需標準片即可對鍍層系統(tǒng)、固體和液體樣品進行測量和分析，同時具備 MQ 值顯示，用于判斷測量程式與樣品匹配度，防止誤操作。

相關產品

凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權或有權使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關法律責任。
本網(wǎng)轉載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關權利。

国产日产欧美精品-亚洲国产综合久久精品-色综合色国产热无码一-亚洲欧美日本国产,免费观看一区二区三区_在线观看片A免费不卡观看_亚洲а∨天堂久久精品_99久无码中文字幕一本久道