泰勒粗糙度儀DUO的信息

來源：無錫駿展儀器有限責(zé)任公司 2025年06月04日 17:37

憑借智能一鍵觸發(fā)系統(tǒng)，SURTRONIC DUO 可在0.3 秒內(nèi)同步采集 Ra（輪廓算術(shù)平均偏差）、Rz（輪廓最大高度）、Rt（輪廓總高度）、Rq（均方根偏差）、Rsk（偏度）、Rku（峰度）及 Rmr（材料比曲線）等 7 項核心粗糙度參數(shù)，相較傳統(tǒng)單參數(shù)測量設(shè)備效率提升62%。以汽車零部件制造場景為例，在活塞環(huán)表面檢測中，該設(shè)備不僅能精準(zhǔn)量化微米級光潔度差異，還可通過 Rmr 參數(shù)解析表面材料分布特性，同步完成波紋度、微觀峰谷形態(tài)的綜合評估。配合內(nèi)置的 ISO、ASME 等 15 種國際標(biāo)準(zhǔn)算法，測量數(shù)據(jù)可直接生成符合行業(yè)規(guī)范的質(zhì)量報告，為生產(chǎn)工藝優(yōu)化與質(zhì)量管控提供全維度數(shù)據(jù)支撐。

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