一、耐壓綜合測(cè)試儀概述

儀器是 4 通道掃描的測(cè)試儀，可用于交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻測(cè)試。在交流耐壓測(cè)試中所需的正弦波電壓，以及接地測(cè)試所需的正弦波電流，是通過線性功放推動(dòng)輸出的方式來產(chǎn)生的，具備輸出波形純凈、失真度小的優(yōu)勢(shì)。測(cè)試儀整體采用高速 MCU 和大規(guī)模數(shù)字電路進(jìn)行設(shè)計(jì)，其輸出電壓的大小、頻率，還有電壓的上升、下降等情況，全都由 MCU 來控制。并且它能夠?qū)崟r(shí)顯示擊穿電流值和電壓值，配備了必要的信號(hào)輸入、輸出接口，還可以選配 RS232C 或 RS485 接口，方便與計(jì)算機(jī)組成綜合測(cè)試系統(tǒng)。它能夠快速且準(zhǔn)確地對(duì)電子元器件、家用電器、絕緣材料、儀器儀表、照明電器、電動(dòng)電熱器具等進(jìn)行耐壓強(qiáng)度的測(cè)量工作。

二、耐壓綜合測(cè)試儀注意事項(xiàng)

1 使用環(huán)境：遠(yuǎn)離易燃空氣

為避免爆炸或燃燒事故，切勿在酒精、稀釋劑等可燃性材料附近，以及含有可燃性氣體的空氣中使用測(cè)試儀。

2 使用環(huán)境：避免高溫與陽光直射

測(cè)試儀內(nèi)部采用的是精密元器件，應(yīng)防止在高溫或陽光直接照射之處使用，否則會(huì)加速儀器老化，縮短其使用壽命，甚至可能造成損壞。儀器使用溫度范圍是 0oC 至 +40oC，儲(chǔ)藏溫度范圍為 -20oC 至 +70oC。

3 使用環(huán)境：避開高濕環(huán)境

不要將儀器置于有鍋爐、水壺、加濕器或其他潮濕有水的環(huán)境中使用，凝結(jié)的水珠可能致使儀器內(nèi)部短路，進(jìn)而損壞測(cè)試儀，嚴(yán)重情況下還可能引發(fā)火災(zāi)。若儲(chǔ)藏儀器的環(huán)境濕度超出規(guī)定范圍（使用濕度范圍為（20%～80%）RH，儲(chǔ)藏濕度小于 90%），需確保測(cè)試儀干燥后才可使用。

4 使用環(huán)境：遠(yuǎn)離多塵環(huán)境

多灰塵的環(huán)境容易使儀器內(nèi)部短路，甚至引發(fā)火災(zāi)，所以要避免在此類環(huán)境中使用測(cè)試儀。

5 使用環(huán)境：保證通風(fēng)良好

儀器配有強(qiáng)制風(fēng)冷散熱系統(tǒng)，若熱量無法散發(fā)出去，內(nèi)部就會(huì)過熱而損壞。要確保儀器的進(jìn)風(fēng)口和出風(fēng)口處不堆積物品，以防阻擋風(fēng)道。

6 使用環(huán)境：放置平穩(wěn)

不要把測(cè)試儀放置在傾斜表面或晃動(dòng)的地方使用，不然容易使測(cè)試儀跌落摔壞。

7 使用環(huán)境：遠(yuǎn)離敏感設(shè)備

在敏感的測(cè)試設(shè)備或接收設(shè)備旁使用測(cè)試儀時(shí)，可能會(huì)因測(cè)試儀產(chǎn)生的高壓干擾到這些設(shè)備。為減少此類干擾，應(yīng)讓這些設(shè)備與測(cè)試儀保持一定距離。

8 電源控制要求

測(cè)試儀的輸入電源必須由單獨(dú)的開關(guān)進(jìn)行控制，一旦出現(xiàn)緊急情況，要馬上切斷電源開關(guān)，再處理相關(guān)事故。

三、耐壓綜合測(cè)試儀功能

自動(dòng)調(diào)整輸出電壓（電流）

自動(dòng)升壓、自動(dòng)降壓

兩種輸出電壓模式

測(cè)試結(jié)果可自動(dòng)保存

輸出電壓頻率連續(xù)可調(diào)

測(cè)試低端可選擇接地（GND）模式或浮地（FLOAT）模式

快速放電功能

直流耐壓測(cè)試節(jié)約測(cè)試時(shí)間

直流測(cè)試開路偵測(cè)功能