菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240在精密测量领域，菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XULM 和 XULMXYm X 射线光谱仪凭借性能，成为细小零部件镀层厚度无损测量与成分分析的理想之选。

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240该系列产品配备可电动调整的多样化准直器及基础滤片，确保每次测量都能在条件下开展。先进的比例接收器支持高计数率，为高精度测量筑牢根基。借助 Fischer 基本参数法，无论是复杂的镀层系统，还是固体、液体样品，无需标准片辅助，即可实现精准分析与测量，其可测元素范围覆盖氯（17）至铀（92）。此外，XULM 型 X 射线光谱仪具备出色的长期稳定性，大幅降低仪器校准频率，有效节省时间与成本。

菲希尔 X-RAY XULM 系列测厚仪在多个领域发挥关键作用。在电子制造中，可精准测量微小零部件、接插件和线材的镀层厚度，为产品质量把控提供可靠数据；在印制线路板检测环节，支持手动测量，保障线路板品质。在珠宝手表行业，不仅能准确测量镀层厚度，还可进行成分分析，助力企业打造高品质产品，适用于质量控制、进料检验和生产流程监控等多个场景。