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倒置金相顯微鏡的偏振光與微分干涉（DIC）應(yīng)用
倒置金相顯微鏡在材料分析中，偏振光與微分干涉（DIC）技術(shù)具有的應(yīng)用價(jià)值。
偏振光觀察主要應(yīng)用于鑒別具有雙折射特性的物質(zhì)，在材料分析中，它能幫助觀察金屬磨面的反射特性。在偏振光下，金屬的組成相雖不透明，但通過(guò)磨面反射規(guī)律可進(jìn)行觀察與鑒別。例如，各向同性不透明夾雜物在正交偏振光下呈黑暗一片，而各向異性透明夾雜物則可觀察到包括體色和表色組成的色彩。此外，偏振光還可用于觀察透明球狀?yuàn)A雜物的黑十字效應(yīng)及等色環(huán)，這些效應(yīng)與物相的形狀和光學(xué)特性密切相關(guān)。
微分干涉（DIC）技術(shù)則是一種基于相干光干涉現(xiàn)象的顯微鏡光學(xué)對(duì)比技術(shù)。在倒置金相顯微鏡中，DIC技術(shù)通過(guò)落射照明方式，利用起偏器、檢偏器和DIC棱鏡，將樣品表面形貌的變化轉(zhuǎn)化為光程差，從而形成具有強(qiáng)立體感和浮雕效果的圖像。DIC技術(shù)對(duì)金相樣品的制備要求較低，甚至只需拋光而不必腐蝕處理即可進(jìn)行觀察。它能夠突出樣品各組成相間的相對(duì)層次關(guān)系，增加各相間的反差，使顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等細(xì)節(jié)更加清晰可見。在材料科學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)、精密機(jī)械制造等領(lǐng)域，DIC技術(shù)已成為一種重要的檢測(cè)手段，能夠觀察到明場(chǎng)下難以判別的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷，提高檢驗(yàn)準(zhǔn)確性。
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