硅单晶提升装置用放射温度计介绍

来源：秋山科技（东莞）有限公司 2024年07月12日 14:29

硅单晶提升装置用放射温度计介绍

可进行高精度、出色的再现性微小光点的温度测量

在硅单晶提拉工序中，液面温度和维塔温度是左右铸锭纯度和铸锭尺寸的重要要点。通过使用辐射温度计在线进行测量和控制，可以生成高品质的锭子。

导入效果

抓住液面的正确的温度变化，提高质量，通过加热器的温度控制为省工业内做出贡献

[商品的特点]

·距离系数大，可测量微小面积的温度（IR-CZ）耐污染性强的双色温度计（1R-CZ）

●即使是小的测定容也可以设置的小形状的聚光部（IR-FA）

高性能双色温度计

功能强大的类型，可进行单色或双色测量，并可在 400℃ 至 2000℃ 的测量范围内选择各种测量波长。光学系统和电路板全面更新，实现长期稳定。配备窗口污垢检测功能，方便通过真空炉等窗口进行测量。

实现高精度和长期稳定性
利用我们过去的经验和技术，我们重新设计了光学系统和电路设计，以实现从低温到超高温的稳定测量。
长期稳定性已评估了大约 3 年，温度支持一直保持在定范围内。
工作温度范围：60℃（最高）这
是通过使用耐热电子元件、提高物镜的耐热性、提高环境温度校正性能来实现的。
通过与各种配件相结合，它可以应对更恶劣的环境。

光纤式红外辐射温度计 IR-FAI单色中/高温
IR-FA系列是光纤传输型辐射温度计，使用光纤将小指大小的聚光部捕捉到的测量光（辐射能）引导到容纳在小盒状主体中的检测元件。由于聚光部分较小，光纤传输灵活，因此对于难以直接看到的地方、狭窄的地方或有电感应干扰风险的地方进行测量非常有用。
光纤无需冷却即可使用，最高可达150℃
光纤不导电，因此有利于感应加热和在防爆环境中使用。
激光发射选项还可用于确认测量点。
主体体积小、重量轻，可安装在DIN导轨上。
有低温型、中高温型、双色型等多种型号可供选择。

将透镜和光纤组合成光学系统的辐射温度计。镜头部分形状较小，可在150摄氏度的环境下使用。一种短波长温度计，测量范围为400℃至3000℃，因测量目标表面状况的变化对温度读数影响很小。

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