原位樣品桿知識：一文認識原位透射電鏡技術

在科學研究和工業(yè)應用中，觀察和理解材料的微觀結構和性質是至關重要的。我們通過幾個方面梳理原位透射電鏡技術的概念、發(fā)展和應用等方面來更好的幫助大家認識原位透射電子顯微技術。

傳統(tǒng)的透射電子顯微鏡（transmission electron microscopy，簡稱TEM）是一種用來觀察材料內(nèi)部結構的強大工具,對于材料學科的發(fā)展起到了巨大的推動作用。許多新型的納米材料、材料結構和性能之間的關聯(lián)、材料物理化學反應機理等研究成果不斷涌現(xiàn)。然而，因為傳統(tǒng)的透射電子顯微鏡（TEM）觀測只能對材料在真空環(huán)境下進行靜態(tài)表征，而許多材料的性能和行為在不同環(huán)境或實際工作條件下可能發(fā)生變化，傳統(tǒng) TEM 無法提供與之相關的信息。

由此，原位透射電鏡（in-situ transmission electron microscopy，簡稱 in-situ TEM）應運而生，該項技術允許研究人員在實時觀察和操控樣品的條件下進行高分辨率成像和表征。并能夠實現(xiàn)直接從原子層次觀察樣品在力、熱、電、磁作用下以及在化學反應過程中研究材料的結構和行為，并直接觀察相變、位錯運動、晶體生長等動態(tài)過程。通過 in-situ TEM，研究人員可以更深入地了解材料的性能、相互作用和響應機制，一度成為材料研究最為熱門的工具。

原位透射電子顯微技術（in-situ TEM）是一種先進的顯微鏡技術，可以在原子尺度下實時觀察材料的結構和行為。它結合了透射電子顯微鏡和原位實驗技術，通過在不同環(huán)境條件下對材料進行觀察，揭示材料在真實工作環(huán)境下的行為和變化過程。

與傳統(tǒng)透射電子顯微鏡技術相比，原位透射電子顯微鏡技術的主要區(qū)別在于其實時觀察能力和對材料的動態(tài)行為的研究。傳統(tǒng)透射電子顯微鏡主要用于對固定樣品的靜態(tài)觀察，而原位透射電子顯微鏡技術允許研究人員在材料受到外部刺激或不同環(huán)境條件下進行實時觀察。

此外，原位透射電子顯微技術還具有以下特點和優(yōu)勢：

1. 高分辨率：原位透射電子顯微技術具有很高的分辨率，可以觀察到材料的細微結構和原子級別的細節(jié)。

2. 實時觀察：該技術能夠提供實時的觀察能力，使研究人員可以在材料發(fā)生變化的過程中進行觀察和記錄。

3. 多尺度觀察：原位透射電子顯微技術可以在不同尺度上觀察材料的結構和行為，從宏觀到納米級別。

4. 環(huán)境控制：該技術允許在不同環(huán)境條件下進行觀察，如高溫、低溫、高壓、不同氣氛等，模擬材料在實際應用中的工作環(huán)境。

原位透射電子顯微技術通過結合高能電子束、實時觀察和環(huán)境控制，為研究人員提供了一種強大的工具，用于揭示材料的結構、性質和動態(tài)行為，以推動材料科學和相關領域的研究和應用發(fā)展。