X射线衍射仪用Schulz反射法进行残余奥氏体含量测量，在测量过程中，试样表面与X射线的聚焦平面重合，而且试样在测量的过程中固定不动，通过θ和2θ 轴的转动(满足Bragg方程)来完成测量，这时所测量的只是平行于试样表面的那些晶面的衍射信息。

因此，影响XRD残余奥氏体定量的重要因素是晶粒的择优取向。以马氏体的(200)晶面的衍射为例，如果晶粒杂乱无章分布，那么从统计学上不同位置处(200)晶面所占比例是一样的；然而一旦存在择优取向，则不同位置处(200)所占的比例将不同，这样在X射线衍射仪测量时，有的位置参与衍射的(200)晶面增多，导致测量的(200)衍射峰的强度增加；而有的位置参与衍射的(200)晶面减少，导致测得的(200)衍射峰的强强度减弱。

而残余奥氏体含量测量的标准《YB/T 5338—2006钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法》是根据所测得的马氏体、奥氏体衍射峰的强度比值进行计算的，这样在残余奥氏体含量的真实值不变的前提下，由于择优取向引起衍射峰强度改变，导致残余奥氏体的测量值(计算值)会与实际值差别很大，或者说存在较大的误差。

通常，由于受样品表面状况、晶粒取向、仪器参数等因素的影响，实际测量的衍射峰强度与理论值会存在一定的偏差?？悸堑秸飧鲆蛩兀?/span>YB/T5338-2006标准规定：在利用该标准进行残余奥氏体含量计算时，马氏体或奥氏体衍射峰的实测强度比与理论强度比允许波动的相对范围为±30%，即实测值和理论值偏差小于30%时可以采用该标准进行残余奥氏体含量的测量。

意大利GNR公司是一家老牌的欧洲光谱仪生产商，其X射线产品线诞生于1966年，经过半个多世纪的开发和研究，该产品线已经拥有众多型号满足多个行业的分析需求。ARE X 为专用的残余奥氏体分析仪，无需依靠 搭载?？樵诔９?/span>XRD上 实现残余奥氏体测试，具有操作简便、检测速度快、数据准确等特点，对操作人员要求不高，做到轻松上手。