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Nicomp 380 系列纳米粒径与电位分析仪 是专门用于测量纳米级颗粒以及胶体样品体系的粒度分析仪器，其测量范围为 0.3 nm - 10 μm。
仪器所拥有*的基线调整自动补偿能力和高分辨率多模式算法，多年来不同领域的使用证明了它可以区分开单峰样本体系和无约束复杂多峰样本体系，是研发的*选择！Nicomp 380系列仪器是*在应用动态光散射技术上的基础上加入多?？榉椒ǖ牧６纫??？纱钤刈远低场⒆远∈拖低场⒍嘟嵌忍讲饧案吲ǘ缺彻馍⑸浜驮谙呒嗖獾饶？椋孀拍？榈纳逗驮黾樱?Nicomp 380 可以更快更的用于各种复杂样品的检测分析。
技术优势：
· 符合美国USP729检测项目I和符合中国药典版的方法;
· 的Nicomp多峰算法和传统高斯单峰算法相结合，为复杂体系提供更的实验数据；
· 的自动稀释模块；
带有的自动稀释?？橄巳斯は∈透吲ǘ妊反吹奈蟛?，大大缩短了使用者测试的宝贵时间，测试结果重现性好，误差率<1%；
· 度高，重现性好;
· 可选配超高分辨率检测?？椋?br />
· ?？榛杓票阌谖ず蜕?；
· 特为多组分不均匀体系设计；
· 可搭载自动进样系统；
· *的样品池设计，可消除样品的交叉污染；
· 快速检测，可追溯历史数据；
· 并且能提供多种类的数据展现形式，Nicomp分布以粒子粒径大小，数量和体积的形式分布呈现
· Zeta电势电位测定：Nicomp Z3000结合了动态光散射技术(DLS)和电泳光散射法(ELS)，实现了同机测试亚微米粒子分布和ZETA电势电位。ELS 是将电泳和光散射结合起来的一种新型光散射，它的光散射理论基础是准弹性碰撞理论，在实验时通过在样品槽中外加一个外电场，带电粒子即会以固定速度向与带电粒子电性相反的电极方向移动，与之相应的动态光散射光谱产生多普勒漂移，这一漂移正比于带电粒子的移动速度，因此由实验测得的谱线的漂移，就可以求得带电粒子的电泳速度，从而得到ζ-电位值。通过测试颗粒之间排斥力 ，判断体系稳定性的测量手段之一。并且配备靶电极，经久耐用。
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