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詳細(xì)摘要：EyeTech激光光阻粒度粒形分析儀能夠精確測(cè)量樣品尺寸、粒形和濃度，形成完整的顆粒大小表征。光阻技術(shù)（LOT）與視頻分析生成的綜合信息，結(jié)果可以顯示在大量的表格和圖表中，可以自定義以顯示所需的信息，可通過(guò)直觀(guān)的數(shù)據(jù)報(bào)告軟件訪(fǎng)問(wèn)。這項(xiàng)技術(shù)提供了令人興

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詳細(xì)摘要：. . . .ZetaPALS是目前*能夠精確測(cè)量低電泳遷移率體系的Zeta電位分析儀器，它采用的是真正的硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，比其它測(cè)量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高1000倍！

詳細(xì)摘要：. . . .ZetaPlus是簡(jiǎn)單、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測(cè)量?jī)x器，其*的開(kāi)放式樣品槽設(shè)計(jì)與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合，使其具有*的分辨率，足以分辨等電點(diǎn)附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測(cè)量?jī)x器中固有的電滲誤差的影響，從而使

詳細(xì)摘要：BI-2010粘度檢測(cè)器采用全新專(zhuān)利技術(shù)的毛細(xì)管全橋式設(shè)計(jì)，具有高靈敏、低展寬、低噪音和節(jié)約測(cè)量時(shí)間等特點(diǎn)，其溫控可從室溫達(dá)到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度，對(duì)樣品進(jìn)行同樣校正，從而得到真實(shí)分子量和結(jié)構(gòu)信息。特征粘度的檢測(cè)結(jié)合Mark－Houwink曲線(xiàn)，

詳細(xì)摘要：Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，硬件PALS技術(shù)*

詳細(xì)摘要：Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，硬件PALS技術(shù)*

詳細(xì)摘要：廣角度動(dòng)/靜態(tài)激光散射儀采用TurboCorr數(shù)字相關(guān)器，通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射的方法可以測(cè)量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過(guò)靜態(tài)光散射的方法可測(cè)量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線(xiàn)、分子量、均方根回旋半徑及第二維里系數(shù)。經(jīng)國(guó)內(nèi)外眾多*實(shí)驗(yàn)室使用，證明BI-200SM