熱反射法：

微納薄膜與塊體材料導(dǎo)熱測試兼得

課程描述

導(dǎo)熱性是指物質(zhì)傳遞熱量的能力，通常用熱導(dǎo)率（K）來表示。導(dǎo)熱性在材料學(xué)、工程技術(shù)、能源等領(lǐng)域都有重要應(yīng)用。宏觀尺度下, 熱導(dǎo)率是材料的本征特性, 與材料的尺寸無關(guān)。然而在微納尺度下，由于彈道輸運(yùn)（ballistic transport）機(jī)制的出現(xiàn)，材料的表觀熱導(dǎo)率隨體系尺寸增大而增大。最終接近塊體材料的熱導(dǎo)率。因此有時需要分別在微納尺度和塊體尺寸下研究和比較材料導(dǎo)熱性能。一般的導(dǎo)熱測試方法對樣品尺寸都有嚴(yán)格要求，通常無法覆蓋從宏觀到微納尺度。

NETZSCH的熱反射法導(dǎo)熱儀（Pico/Nano TR），因使用的電路延遲方法（Electrical Delay Method），可以在一臺儀器上同時實(shí)現(xiàn)對微納薄膜與塊體材料的導(dǎo)熱測量。本次webinar將對NETZSCH熱反射法導(dǎo)熱儀的測試原理進(jìn)行介紹，并分別通過對微納薄膜和塊體材料的測試案例講解測試分析方法。

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